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Non-contact scanning system 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01C-009/14
출원번호 US-0910228 (2010-10-22)
등록번호 US-8412484 (2013-04-02)
발명자 / 주소
  • Gaspardo, Steven J.
  • DiMonte, Eugene L.
출원인 / 주소
  • Gaspardo & Associates, Inc.
대리인 / 주소
    Paniaguas, John S.
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 23

초록

A non-contact scanning system for three dimensional non-contact scanning of a work piece is disclosed for use in various applications including reverse engineering, metrology, dimensional verification and inspection The scanning system includes a scanner carried by an arcuately configured gantry ass

대표청구항

1. A non-contact scanning system comprising: a common base for carrying said fixture assembly and said gantry assembly;a fixture assembly for carrying a work piece to be scanned; said fixture assembly moveably mounted relative to said common base to provide at least three degrees of freedom of movem

이 특허에 인용된 특허 (23)

  1. Ono, Yuji, 3D-shape measurement apparatus.
  2. Liasi, Evangelos; Wu, Jing; Xi, Cathy Bingfeng, Apparatus and method for correlating part design geometry, manufacturing tool geometry, and manufactured part geometry.
  3. Ng Wan Sing,SGX, Articulated arm for medical procedures.
  4. Little Francis H. ; Janning John C., Computed tomography metrology.
  5. Cohen Michael F. ; Grzeszczuk Radek, Determining a vantage point of an image.
  6. Huang, Yingjieh; Nishida, Hirobumi, Estimation of 3-dimensional shape from image sequence.
  7. Greer Dale R., Method and apparatus for calibrating a non-contact gauging sensor with respect to an external coordinate system.
  8. Gilliland Malcolm T., Method and apparatus for determining the configuration of a workpiece.
  9. Gilliland Malcolm T., Method and apparatus for determining the configuration of a workpiece.
  10. Gilliland Malcolm T., Method and apparatus for determining the configuration of a workpiece.
  11. Abitbol Marc,ILX ; Maillart Jean-Luc,FRX, Method and apparatus for identifying the position in three dimensions of a movable object such as a sensor or a tool car.
  12. Turner, Greg Allen, Method and system for defining and verifying a part.
  13. Ferber, Stefan; Zilker, Andreas, Method for determining measuring positions and method for planning measuring tracks for measuring an object or a part thereof and device for measuring an object or a part thereof.
  14. Bavendiek, Klaus; Bauer, Jurgen, Method for inspecting objects particularly for detecting defects or irregularities therein by means of X-radiation and apparatus for performing the method.
  15. Penick,William Arthur; Fomey,Robert Allen, Multi-axis, processor-controlled, toolhead positioner.
  16. Martins, Fernando, Omnivergent stereo image capture.
  17. Korobkin, Carl P., Photogrammetry engine for model construction.
  18. Bandyopadhyay, Amit; Christensen, Jonathan C., Reverse engineering of polymeric solid models by refractive index matching.
  19. Wu, Deam; Chang, Chih-Kuang, System and method for outputting measurement data on an object to a graphic file thereof.
  20. Stern Howard ; Liu Kuo-Ching ; Blosser Robert C., System and method for selective scanning of an object or pattern including scan correction.
  21. McCroskey William K. (Solon OH) Vickers David S. (Macedonia OH), Three dimensional tomographic system.
  22. Kofman, Jonathan D.; Knopf, George K., Three-dimensional measurement method and apparatus.
  23. Chen, Chungte W.; Anderson, John S.; Baker, George F.; Hastings, Jr., C Thomas, Ultra-wide field of view concentric scanning sensor system with a piece-wise focal plane array.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Becker, Bernd-Dietmar; Rajaie, Hamidreza; Zweigle, Oliver; Bridges, Robert E.; Tohme, Yazid, Three-dimensional measuring device removably coupled to robotic arm on motorized mobile platform.
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