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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0937918 (2009-04-16) |
등록번호 | US-8451608 (2013-05-28) |
국제출원번호 | PCT/US2009/040829 (2009-04-16) |
§371/§102 date | 20110103 (20110103) |
국제공개번호 | WO2009/129400 (2009-10-22) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 1 인용 특허 : 298 |
A storage device testing system cooling circuit includes a plurality of test racks. Each of the test racks include a test slot compartment and a test electronics compartment. Each of the test slot compartments includes multiple test slots, and one or more cooling conduits configured to convey a cool
1. A storage device testing system cooling circuit (20) comprising: a plurality of test racks each comprising: a test slot compartment comprising multiple test slots; andone or more cooling conduits configured to convey a cooling liquid toward the test slots; anda test electronics compartment compri
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