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Method for analyzing and diagnosing large scale process automation control systems 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G05B-011/01
  • G05B-013/02
  • G06F-017/18
  • G06F-019/00
  • G06F-011/30
  • G21C-017/00
  • H03F-001/26
  • H04B-015/00
출원번호 US-0357413 (2012-01-24)
등록번호 US-8489209 (2013-07-16)
발명자 / 주소
  • Starr, Kevin Dale
  • Mast, Timothy Andrew
  • Garverick, Robert Trent
출원인 / 주소
  • ABB Inc.
대리인 / 주소
    Katterle, Paul R.
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 21

초록

A method is provided for analyzing and diagnosing a large scale process automation control system having a plurality of control loops. Assessments for pre-defined key performance indicators (KPIs) are automatically generated for control, process and signal sections of each control loop. The automati

대표청구항

1. A method performed by a computer for analyzing one or more of a plurality of control loops of a control system operable to control a process, the control loops each having a controller, a final control element and a measurement device for providing the controller with a measurement of a process v

이 특허에 인용된 특허 (21)

  1. Owen James Gareth,CAX, Automatic control loop monitoring and diagnostics.
  2. Seborg Dale E. ; Miao Yu-Ting Tina, Automatic detection of excessively oscillatory feedback control loops..
  3. Dallimonti Renzo (Ambler PA), Concurrent overview and detail display system having process control capabilities.
  4. Zweighaft James (Boulder CO), Control loop instability detection and correction apparatus.
  5. Eryurek,Evren; Kavaklioglu,Kadir; Miller,John P., Data presentation system for abnormal situation prevention in a process plant.
  6. Junk, Kenneth W., Detection and discrimination of instabilities in process control loops.
  7. Ettaleb,Lahoucine; Roche,Alain Andr챕, Diagnostic for poorly tuned control loops.
  8. Schleiss Trevor D. ; Wojsznis Wilhelm K. ; Blevins Terrence L., Diagnostics in a process control system.
  9. Schleiss, Trevor D.; Wojsznis, Wilhelm K.; Blevins, Terrence L., Diagnostics in a process control system.
  10. Blevins, Terrence L.; Nixon, Mark J.; Wojsznis, Wilhelm K., Diagnostics in a process control system which uses multi-variable control techniques.
  11. Williamson ; Jr. Robert A. (Medfield MA) Ford Roger W. (Walpole MA), Industrial process control system.
  12. Katende, Edward; Gupta, Amit; Scharf, Paul F., Method for operating a cryogenic plant.
  13. Havekost,Robert B.; Jundt,Larry Oscar; Faltesek,Roy; Nadas,Ian James, Methods and apparatus for integrated display of process events and trend data.
  14. Lee, Joseph Ching Hua; Vishwasrao, Sharad; Kashyap, Naveen; Ornelas, Emelin, Metric based performance monitoring method and system.
  15. Duff Stephen B. (Palmyra NJ) Paltenstein Jack S. (Ft. Washington PA), Monitoring and control system and method.
  16. Arcella Frank G. (Bethel Park Borough PA) Bednar Fred H. (Shaler Township ; Allegheny County PA) Schreurs Jan J. (Murrysville PA) Forker James M. (Murrysville PA), Online valve diagnostic monitoring system.
  17. van Weele Leonardus A. (Terneuzen NLX) de Bruijn Ronny P. (Jansteen NLX) Vermeire Roger R. (Terneuzen NLX) Zemering Christo (Midland MI) Lenting Ben (Auckland NZX), Operator station for manufacturing process control system.
  18. Frerichs, Donald K.; Chaws, Roman P., Process and device for evaluating the performance of a process control system.
  19. Grumelart, Alain, Process control loop analysis system.
  20. Spring Robert A.,CAX, Process information and maintenance system for distributed control systems.
  21. Annette L. Latwesen ; Kenneth W. Junk, Statistical determination of estimates of process control loop parameters.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Chen, Te-Ming; Chang, Sen-Chia; Lai, Chien-Liang; Day, Chi-Ting, Method, apparatus, and system for monitoring manufacturing equipment.
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