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Ion sources for improved ionization 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01J-049/10
  • H01J-027/02
출원번호 US-0251886 (2011-10-03)
등록번호 US-8530832 (2013-09-10)
발명자 / 주소
  • Mordehai, Alexander
  • Werlich, Mark H.
  • Love, Craig P.
  • Bertsch, James L.
출원인 / 주소
  • Agilent Technologies, Inc.
인용정보 피인용 횟수 : 3  인용 특허 : 18

초록

Improved apparatuses and methods are provided for ionizing samples and analyzing the samples with mass spectrometry.

대표청구항

1. An ion source comprising: a housing that defines a chamber, and located inside the chamber: a capillary having a receiving end and a delivery end, wherein a liquid sample can be received from outside of the chamber through the receiving end and sprayed into droplets out of the delivery end in the

이 특허에 인용된 특허 (18)

  1. Frazer,William D.; Fischer,Steven M.; Crawford,Robert K., Apparatus for delivering ions from a grounded electrospray assembly to a vacuum chamber.
  2. Mordehai Alex (Ithaca NY) Hopfgartner Gerard (Ithaca NY) Henion John D. (Trumansburg NY), Atmospheric pressure ion interface for a mass analyzer.
  3. D\Silva Arthur (Ames IA), Capillary zone electrophoresis-mass spectrometer interface.
  4. Ikonomou Michael G. (Victoria CAX) Kebarle Paul (Edmonton CAX), Electrospray interface for mass spectrometer and method of supplying analyte to a mass spectrometer.
  5. Hail Mark E. (Alameda County CA) Mylchreest Iain C. (Santa Clara County CA), Electrospray ion source and interface apparatus and method.
  6. Thakur,Rohan A., Electrospray ion source apparatus.
  7. Frey, Brian L.; Smith, Lloyd M.; Westphall, Michael S., Electrospray ionization ion source with tunable charge reduction.
  8. Mordehai, Alexander; Werlich, Mark H; Love, Craig P; Bertsch, James L., Ion sources for improved ionization.
  9. Henion John D. (Trumansburg NY) Covey Thomas R. (Houston TX) Bruins Andries P. (Leek NLX), Ion spray apparatus and method.
  10. Covey Thomas R. (Richmond Hill CAX) Anacleto Joseph F. (Brampton CAX), Ion spray with intersecting flow.
  11. Kobayashi, Masato, Mass spectrometer.
  12. Hirabayashi Atsumu,JPX ; Hirabayashi Yukiko,JPX ; Sakairi Minoru,JPX ; Takada Yasuaki,JPX ; Nabeshima Takayuki,JPX ; Koizumi Hideaki,JPX, Mass spectrometer and mass spectrometry method for analyzing compounds contained in a solution.
  13. Covey, Thomas R.; Jong, Raymond; Javaheri, Hassan, Method of and apparatus for ionizing an analyte and ion source probe for use therewith.
  14. Fischer, Steven M.; Gourley, Darrell L.; Bertsch, James L., Multimode ionization source.
  15. Apffel James A. ; Werlich Mark H. ; Bertsch James L. ; Goodley Paul C., Orthogonal ion sampling for APCI mass spectrometry.
  16. Apffel ; Jr. James A. (Palo Alto CA) Werlich Mark H. (Fremont CA) Bertsch James L. (Palo Alto CA), Orthogonal ion sampling for electrospray LC/MS.
  17. Corso, Thomas N.; Schultz, Gary A.; Prosser, Simon J.; Huang, Xian, Separation media, multiple electrospray nozzle system and method.
  18. Henion John D. (Trumansburg NY) Lee Edgar D. (Ithaca NY) Covey Thomas R. (Ithaca NY), Thermal-assisted electrospray interface (TAESI) for LC/MS.

이 특허를 인용한 특허 (3)

  1. Bartko, Andrew P.; Black, Rodney S.; Busch, James R.; Chase, David R.; Daly, Ryan W.; Ronningen, Theodore J.; Young, Matthew S., Electrohydrodynamic spraying.
  2. Bartko, Andrew P.; Black, Rodney S.; Busch, James R.; Chase, David R.; Daly, Ryan W.; Ronningen, Theodore J.; Young, Matthew S., Electrohydrodynamic spraying.
  3. Fukada, Yoshinari, Ion generator.
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