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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0389360 (2010-06-02) |
등록번호 | US-8576520 (2013-11-05) |
우선권정보 | AT-A 1285/2009 (2009-08-14) |
국제출원번호 | PCT/AT2010/000194 (2010-06-02) |
§371/§102 date | 20120207 (20120207) |
국제공개번호 | WO2011/017721 (2011-02-17) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 8 |
The invention relates to a method for detecting arcs in a direct-current path of a photovoltaic system, wherein values of a current (IDC) of the direct-current path are detected during a repeating time frame (7) and a mean value (8) is generated, and such a photovoltaic system. In order to reliably
1. A method for detecting arcs in a direct-current path of a photovoltaic system, comprising the following steps: detecting values of a current (IDC) of the direct-current path during a repeating time frame;generating a mean value of the current (IDC);detecting values of a voltage (UDC) of the direc
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