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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0304520 (2007-06-18) |
등록번호 | US-8581975 (2013-11-12) |
국제출원번호 | PCT/US2007/071451 (2007-06-18) |
§371/§102 date | 20091015 (20091015) |
국제공개번호 | WO2007/147158 (2007-12-21) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 16 |
A pulsed thermography defect detection apparatus including active and passive infrared (IR) thermography for non-destructive testing (NDT) of powdermetallic (P/M) components for on-line and off-line inspection.
1. A pulsed thermography apparatus for testing a powdermetallic component, the apparatus comprising: a power source coupled to the powdermetallic component and operative to provide an electric current within the powdermetallic component, wherein said powdermetallic component when heated by said elec
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