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Substrate support temperature control 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • F22B-037/00
  • G05D-009/00
  • B05C-011/00
출원번호 US-0132101 (2008-06-03)
등록번호 US-8596336 (2013-12-03)
발명자 / 주소
  • Fovell, Richard
  • Brillhart, Paul
  • Yi, Sang In
  • Khan, Anisul H.
  • Dinev, Jivko
  • Nevil, Shane
출원인 / 주소
  • Applied Materials, Inc.
대리인 / 주소
    Moser Taboada
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 33

초록

Apparatus for controlling the temperature of a substrate support may include a first heat transfer loop and a second heat transfer loop. The first heat transfer loop may have a first bath with a first heat transfer fluid at a first temperature. The second heat transfer loop may have a second bath wi

대표청구항

1. An apparatus to control the temperature of a substrate support, comprising: a first heat transfer loop having a first bath with a first heat transfer fluid at a first temperature with a first flow controller to provide the first heat transfer fluid to the substrate support;a second heat transfer

이 특허에 인용된 특허 (33)

  1. Kamikawa Yuji,JPX ; Nakashima Satoshi,JPX ; Ueno Kinya,JPX, Apparatus for and method of cleaning objects to be processed.
  2. Kamikawa, Yuji; Nakashima, Satoshi; Ueno, Kinya, Apparatus for and method of cleaning objects to be processed.
  3. Fredrick, Joseph P., Apparatus for substrate handling.
  4. Shamouilian Shamouil ; Kholodenko Arnold ; Salimian Siamak ; Noorbakhsh Hamid ; Quiles Efrain ; Grimard Dennis S., Chuck having pressurized zones of heat transfer gas.
  5. Koji Sakai JP, Coating film formation apparatus and aging process apparatus.
  6. Kitayama,Hirofumi; Matsushima,Noriaki, Conductor treating single-wafer type treating device and method for semi-conductor treating.
  7. Matsumoto Akinori,JPX ; Kuroda Takeshi,JPX ; Ban Cozy,JPX ; Konishi Toko,JPX ; Yokoi Naoki,JPX, Drying apparatus and method.
  8. Matsumoto Akinori,JPX ; Kuroda Takeshi,JPX ; Ban Cozy,JPX ; Konishi Toko,JPX ; Yokoi Naoki,JPX, Drying apparatus and method using IPA of a semiconductor wafer.
  9. Umotoy Salvador P. ; Lei Lawrence C. ; Nguyen Anh N. ; Chiao Steve H., Dual gas faceplate for a showerhead in a semiconductor wafer processing system.
  10. Takeshita Kazuhiro,JPX ; Nagashima Shinji,JPX ; Mizutani Yoji,JPX ; Katayama Kyoshige,JPX, Gas treatment apparatus.
  11. Takeshita, Kazuhiro; Nagashima, Shinji; Mizutani, Yoji; Katayama, Kyoshige, Gas treatment apparatus.
  12. Takeshita, Kazuhiro; Nagashima, Shinji; Mizutani, Yoji; Katayama, Kyoshige, Gas treatment apparatus.
  13. Omori Tsutae (Yamanashi JPX) Harada Kouji (Kumamoto JPX) Satoh Takami (Kumamoto JPX) Anai Noriyuki (Kumamoto JPX) Nomura Masafumi (Kumamoto JPX), Hydrophobic processing apparatus including a liquid delivery system.
  14. Frankel Jonathan ; Shmurun Inna ; Sivaramakrishnan Visweswaren ; Fukshansky Eugene, Lid assembly for high temperature processing chamber.
  15. Tanaka Akinori,JPX ; Okano Shoichi,JPX ; Maki Isao,JPX, Method and apparatus for drying washed objects.
  16. Grosshart Paul F., Method and apparatus for enhancing outcome uniformity of direct-plasma processes.
  17. Chai ; deceased An-Ti, Method and apparatus for thermocapillary drying.
  18. Brcka, Jozef; Jones, Bill; Leusink, Gert; Long, Jeffrey J.; Oliver, Bill; Tweed, Charles, Method for characterizing the performance of an electrostatic chuck.
  19. Reitinger, Erich, Method for conditioning semiconductor wafers and/or hybrids.
  20. Kulp,John; Carcasi,Michael; Funk,Merritt, Method for heating a chemically amplified resist layer carried on a rotating substrate.
  21. Heimanson Dorian ; Omstead Thomas R., Method of regulating substrate temperature in a low pressure environment.
  22. DeYoung, James; McClain, James B.; Cole, Michael E.; Brainard, David, Methods for cleaning microelectronic structures with cyclical phase modulation.
  23. DeYoung, James P.; McClain, James B.; Gross, Stephen M., Methods for the control of contaminants following carbon dioxide cleaning of microelectronic structures.
  24. Gao,Qinghong K.; McMillin,Brian; Denty,Bill, Multiple zone gas distribution apparatus for thermal control of semiconductor wafer.
  25. Weigand Peter,DEX ; Shoda Naohiro, Semiconductor wafer temperature measurement and control thereof using gas temperature measurement.
  26. Weigand Peter,DEX ; Shoda Naohiro, Semiconductor wafer temperature measurement and control thereof using gas temperature measurement.
  27. Masahiro Kimura JP; Hiroyuki Araki JP, Substrate drying apparatus and substrate processing apparatus.
  28. Wang,Xinming; Abe,Kenichi; Mishima,Koji, Substrate processing apparatus and method.
  29. Matsuda Izuru,JPX ; Haraguchi Hideo,JPX, Substrate temperature control method and device.
  30. Namose, Isamu, Temperature adjustment apparatus.
  31. Montoya Thomas T., Vacuum system and method for securing a semiconductor wafer in a planar position.
  32. Mishina Haruo (Ushiku JPX) Yamama Shinya (Abiko JPX) Yamada Yukio (Katsuta JPX) Tsuchiya Keizo (Kashiwa JPX), Vapor reflow type soldering apparatus.
  33. Tsubone, Tsunehiko; Tamura, Naoyuki; Kato, Shigekazu; Nishihata, Kouji; Itou, Atsushi, Wafer cooling method and apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Miyagawa, Osamu, Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor manufacturing method.
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