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특허 상세정보

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Pressure tester for printhead integrated circuit carrier

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01M-003/26   
미국특허분류(USC) 073/046; 073/040; 073/040.5R
출원번호 US-0153460 (2011-06-05)
등록번호 US-8689612 (2014-04-08)
발명자 / 주소
출원인 / 주소
대리인 / 주소
    Cooley LLP
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 19
초록
▼

A pressure-based tester for testing an integrity of a printhead integrated circuit (IC) carrier includes a housing assembly; a cradle assembly coupled to the housing assembly and adapted to receive the printhead IC carrier, the cradle assembly further defining spouts adapted to engage with the printhead IC carrier; a regulated gas supply arranged in the housing assembly; a first gas supply line in fluid communication with the regulated gas supply; a pneumatic retaining mechanism in fluid communication with the gas supply via the first gas supply line, th...

대표
청구항
▼

1. A pressure-based tester for testing an integrity of a printhead integrated circuit (IC) carrier, the tester comprising a housing assembly;a cradle assembly coupled to the housing assembly and adapted to receive the printhead IC carrier, the cradle assembly further defining spouts adapted to engage with the printhead IC carrier;a regulated gas supply arranged in the housing assembly;a first gas supply line in fluid communication with the regulated gas supply;a pneumatic retaining mechanism in fluid communication with the gas supply via the first gas su...

이 특허에 인용된 특허 (19)

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