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Method and apparatus for imaging 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/02
출원번호 US-0189349 (2011-07-22)
등록번호 US-8736847 (2014-05-27)
발명자 / 주소
  • Shirley, Lyle G.
  • Marrion, Jeffrey C.
출원인 / 주소
  • Focused Innovation, Inc.
대리인 / 주소
    Brooks, III, John J.
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 21

초록

A system that incorporates teachings of the present disclosure may include, for example, an apparatus that includes a processor coupled with a memory where the processor is operable to obtain a first speckled pattern of a first defocused image of a neighborhood of a location on an object, to obtain

대표청구항

1. A method comprising: illuminating a neighborhood of a location on an object with a first beam of coherent radiation at a first wavelength;obtaining a first defocused image of the neighborhood illuminated with the first wavelength, the first defocused image comprising a first speckle pattern;illum

이 특허에 인용된 특허 (21)

  1. Shirley Lyle, Apparatus and methods for contour measurement using movable sources.
  2. Shirley, Lyle, Apparatus and methods for optically monitoring thickness.
  3. Shirley Lyle G. ; Mermelstein Michael S., Apparatus and methods for surface contour measurement.
  4. Shirley, Lyle, Apparatus and methods for surface contour measurement.
  5. Cloud Gary L., Apparatus for electronic speckle pattern interferometry.
  6. Boas David A. ; Yodh Arjun G., Imaging spatially varying dynamic media with diffusing correlation waves.
  7. McCollum,Timothy A.; Parker,Jeffery R.; Bourdelais,Robert; Brickey,Cheryl; Brophy,Chris; Lee,Junwon; Sudol,Ronald J., Long curved wedges in an optical film.
  8. Fujii Hitoshi (770 Belmont ; Apt. 106 Ste-Foy ; Quebec City ; Quebec CAX G1V2W9), Measurement of surface roughness.
  9. Ettemeyer Andrea,DEX, Method and apparatus for determining deformation and elongation on curved bodies.
  10. Huntley Jonathan Mark,GBX ; Saldner Henrik,SEX, Method and apparatus for measuring shape of objects.
  11. Shirley, Lyle G., Method and apparatus for remote sensing of objects utilizing radiation speckle.
  12. Kirkpatrick,Sean J.; Duncan,Donald D., Methods and apparatus for evaluating mechanical and thermal strains in electronic materials, semiconductor materials, and other structures.
  13. Shirley Lyle G., Methods and apparatus for remotely sensing the orientation of an object.
  14. Claus Richard O. (Christainsburg VA) Bennett K. D. (Blacksburg VA), Modal domain optical fiber sensors.
  15. Pearce Thomas H. (Kingston CAX), Multiple frequency laser interference microscope.
  16. Pollard Harry C. (Leicester GB2), Optical inspection.
  17. Moran Steven E. (5386 Montego Pl. San Diego CA 92124), Optically phased-locked speckle pattern interferometer.
  18. Leendertz Jack Albert (Bristol EN), Speckle pattern interferometer.
  19. Paxman Richard G. (Ann Arbor MI) Marron Joseph C. (Brighton MI), System and method for three-dimensional imaging of opaque objects using frequency diversity and an opacity constraint.
  20. Volkov, Leonid; Stiens, Johan, Systems and methods for millimeter and sub-millimeter wave imaging.
  21. Smyth, Andrew Paul; Smyth, Christopher Charles, Systems and methods for tracking the eye.
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