$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Optic protection via stagnant liquid film 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B23K-026/00
출원번호 US-0435872 (2009-05-05)
등록번호 US-8785814 (2014-07-22)
발명자 / 주소
  • Toller, Steven M.
  • Johnson, Ronald L.
출원인 / 주소
  • LSP Technologies, Inc.
대리인 / 주소
    Benesch, Friedlander, Coplan & Aronoff LLP
인용정보 피인용 횟수 : 3  인용 특허 : 23

초록

Systems and methods for the protection of optics are provided. In one example embodiment, a laser processing system is provided, the laser processing system comprising a laser source and an optic. The laser processing system may further comprise at least one of a liquid delivery mechanism configured

대표청구항

1. A method for protecting laser optics, comprising: providing a laser processing system for delivering a pulse of laser energy to a target surface, the laser processing system including an optic to be protected;applying a flow of liquid to a surface of the optic, via a liquid delivery mechanism;all

이 특허에 인용된 특허 (23)

  1. Ikegami, Hiroshi; Hayasaka, Nobuo, Apparatus and method for laser beam machining, and method for manufacturing semiconductor devices using laser beam machining.
  2. Toller, Steven M.; Walters, Craig T., Apparatus and method for non-destructive testing.
  3. Bossi, Richard H.; Housen, Kevin R.; Shepherd, William B.; Voss, Michael E., Bond strength measurement system using shock loads.
  4. Sokol, David W.; Walters, Craig T.; Housen, Kevin R.; Bossi, Richard H.; Toller, Steven M., Lamb waves for laser bond inspection.
  5. Sokol,David W.; Walters,Craig T.; Houson,Kevin R.; Bossi,Richard H.; Toller,Steven M., Laser bond inspection using annular laser beam.
  6. Toller, Steven M.; Dulaney, Jeff L., Laser induced bond delamination.
  7. Dulaney Jeff L., Laser peening process and apparatus.
  8. Dulaney Jeffrey L. ; Clauer Allan H. ; Toller Steven M., Laser peening process and apparatus with uniform pressure pulse confinement.
  9. Ortiz ; Jr. Angel L. (Scotia NY) Penney Carl M. (Saratoga Springs NY) Jones Marshall G. (Scotia NY) Erikson Carl E. (Schenectady NY), Laser peening system and method.
  10. Friedman, Herbert W.; Ault, Earl R.; Scheibner, Karl F., Laser peening with fiber optic delivery.
  11. Dulaney Jeff L. ; Clauer Allan H. ; Sokol David W., Laser shock peening with tailored multiple laser beams.
  12. Clauer Allan H. (Worthington OH) Fairand Barry P. (Arlington OH) Ford Stephen C. (Worthington OH) Walters Craig T. (Arlington OH), Laser shock processing.
  13. Sokol, David W.; Walters, Craig T.; Dulaney, Jeff L.; Toller, Steven M., Laser system and method for non-destructive bond detection and evaluation.
  14. Epstein Harold M. (Columbus OH) Dulaney Jeffrey L. (Hilliard OH) Sokol David W. (Columbus OH), Laser systems.
  15. Epstein Harold M. (Columbus OH) Clauer Allan H. (Worthington MI) Mueller Boyd A. (Columbus MI) Dulaney Jeffrey L. (Hilliard OH) Campbell Bernerd E. (Upper Arlington OH) Walters Craig T. (Columbus OH), Material properties.
  16. Anderson, Raymond I, Method and apparatus for improving material properties.
  17. Dulaney Jeffrey L. ; Toller Steven M. ; Clauer Allan H., Mobile laser peening system.
  18. Toller Steven M. ; Dulaney Jeffrey L. ; Clauer Allan H. ; O'Loughlin Mark E., Process chamber for laser peening.
  19. Toller Steven M. ; Dulaney Jeffrey L. ; Clauer Allan H. ; O'Loughlin Mark E., Process chamber for laser peening.
  20. O'Loughlin, Mark E.; Clauer, Allan H.; Sokol, David W.; Dulaney, Jeffrey L.; Toller, Steven M., Quality control for laser peening.
  21. Allan H. Clauer ; Craig T. Walters ; David F. Lahrman, Shock pressure gauge for laser peening apparatus.
  22. Clauer, Allan H.; Lahrman, David F.; Dulaney, Jeff L.; Toller, Steve M., System for laser shock processing objects to produce enhanced stress distribution profiles.
  23. Toller, Steven M.; Sokol, David W.; Walters, Craig T., Tape overlay for laser bond inspection.

이 특허를 인용한 특허 (3)

  1. Bossi, Richard H.; Stewart, Alan F.; Piehl, Marc J., Method for creating non-inserted artificial disbonds or delaminations for nondestructive inspection test standards.
  2. Toller, Steven M.; Sokol, David; O'Loughlin, Mark E.; Dulaney, Jeff L., Protection of laser bond inspection optical components.
  3. Hull, John R.; Davis, Keith John, Systems and methods for testing internal bonds.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로