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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0273980 (2011-10-14) |
등록번호 | US-8843319 (2014-09-23) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 17 |
According to various embodiments, a method may include measuring a first capacitance of a sample at a first frequency using a measurement system, measuring a second capacitance of the sample at a second frequency using the measurement system, calculating a ratio of the first capacitance to the secon
1. A method comprising: measuring a first capacitance of a subsurface sample at a first frequency using a measurement system;measuring a second capacitance of the subsurface sample at a second frequency using the measurement system;calculating a ratio of the first capacitance to the second capacitan
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