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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0286010 (2011-10-31) |
등록번호 | US-8884614 (2014-11-11) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 1 인용 특허 : 60 |
Present embodiments include eddy current array probes having differential coils capable of detecting both long and short flaws in a test specimen and, additionally or alternatively, multiplexed drive coils. For example, an eddy current array probe may include a first plurality of eddy current channe
1. An eddy current array probe, comprising: a plurality of eddy current channels, each eddy current channel comprising: a first sense coil and a second sense coil, wherein the first and second sense coils are offset from one another in a first direction and a second direction, and the first and seco
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