검색연산자 | 기능 | 검색시 예 |
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() | 우선순위가 가장 높은 연산자 | 예1) (나노 (기계 | machine)) |
공백 | 두 개의 검색어(식)을 모두 포함하고 있는 문서 검색 | 예1) (나노 기계) 예2) 나노 장영실 |
| | 두 개의 검색어(식) 중 하나 이상 포함하고 있는 문서 검색 | 예1) (줄기세포 | 면역) 예2) 줄기세포 | 장영실 |
! | NOT 이후에 있는 검색어가 포함된 문서는 제외 | 예1) (황금 !백금) 예2) !image |
* | 검색어의 *란에 0개 이상의 임의의 문자가 포함된 문서 검색 | 예) semi* |
"" | 따옴표 내의 구문과 완전히 일치하는 문서만 검색 | 예) "Transform and Quantization" |
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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) | G06F-011/00 H03M-013/00 G11B-027/36 H03M-013/29 H03M-013/37 H03M-013/11 |
미국특허분류(USC) | 714/794; 714/718 |
출원번호 | US-0974293 (2013-08-23) |
등록번호 | US-8887033 (2014-11-11) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 13 |
Monitors, architectures, systems and methods for determining one or more quality characteristics of a storage channel. The monitor generally includes an iterative decoder configured to decode data from the storage channel and generate information relating to a quality metric of the storage channel and/or the iterative decoder, a memory configured to store a threshold value for the quality metric, and a comparator configured to compare the threshold value with a measured value of the quality metric. The monitor enables accurate determination of storage ch...
1. A computer implementable method for evaluating a data storage device, the method comprising: determining a signal-to-noise ratio (SNR) threshold based on both (i) a base sector-error-rate (SER) related to a quality of a data storage device and (ii) an SNR margin;storing the SNR threshold in a memory device;measuring a SNR of a data storage device being evaluated;qualifying the data storage device being evaluated if the measured SNR exceeds the SNR threshold stored in the memory device; andrejecting the data storage device being evaluated if the measur...