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Optoelectronic sensor for detecting object edges 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01J-040/14
  • G01B-011/04
  • G01B-011/14
  • G01B-011/24
  • G01B-011/02
  • G01B-011/245
출원번호 US-0117755 (2011-05-27)
등록번호 US-8963113 (2015-02-24)
우선권정보 DE-10 2010 022 273 (2010-05-31)
발명자 / 주소
  • Merettig, Gerhard
  • Bergbach, Roland
  • Goetz, Matthias
  • Waslowski, Kai
  • Hörsch, Ingolf
출원인 / 주소
  • Sick AG
대리인 / 주소
    Nath, Goldberg & Meyer
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 29

초록

An optoelectronic sensor for recognizing object edges of objects moved relative to the sensor, has a light transmission device with at least one light transmitter, in particular at least two light transmitters, for generating a respective collimated or focused transmitted light beam. The sensor has

대표청구항

1. An optoelectronic sensor for recognizing object edges of objects moved relative to the sensor, having a light transmission device with at least one light transmitter (23) for producing a respective collimated or focused transmitted light beam (31);having at least two light receivers (25) for imag

이 특허에 인용된 특허 (29)

  1. Ishiguro Minoru (Omiya JPX), Active-type auto-focusing mechanism.
  2. Tsubota Naoki (Kyoto JPX) Shibuya Satoru (Kyoto JPX), Apparatus for counting the number of objects passing a given point.
  3. Igaki, Seigo; Nakakuki, Tadao; Inagaki, Takefumi; Oikawa, Shuetsu; Fujimura, Takashi, Apparatus for detecting edge of semitransparent plane substance.
  4. Nakazawa ; Kiwao ; Tanimoto ; Akikazu, Apparatus for measuring the line width of a pattern.
  5. Dufford ; Jr. Max H. (Lakewood CO) Price Earl T. (San Jose CA), Counting system for articles conveyed in a stream.
  6. Mondie George Randolph, Dichotomous scan system for detection of edges of objects and overlapped objects having relatively uniform surfaces.
  7. Mondie George R. (Bedford TX) Van Tyne Richard G. (Richardson TX) Neff Marion W. (Dallas TX), Dichotomous scan system for detection of overlapped objects.
  8. Utagawa Ken (Yokohama JPX), Distance measuring apparatus.
  9. Bartunek Hans (Mountain View CA) Cerny Mark (Mountain View CA), Dual beam sensor and edge detection system and method.
  10. Hawes, William R, Edge detection apparatus and method.
  11. Pryor Timothy R. (Windsor CAX), Electro-optical inspection.
  12. Schiller Norman H. (163-16 Willets PT Blvd. Whitestone NY 11357), Electro-optical system for detecting the presence of an object within a predetermined detection system.
  13. Minerd, Timothy M.; Crumrine, Robert E., High contrast ratio paper sensor.
  14. Price Earl T. (San Jose CA) Allison Arthur F. (San Jose CA), Item counting apparatus.
  15. Fetzer Gnter (Gundelfingen DEX) Meinert Thomas (Emmendingen DEX), Light sensor for detecting an object in a certain distance.
  16. White Kenneth W. (Lewisville NC) Dominguez Luis M. (Winston-Salem NC) McConnell Bain C. (Winston-Salem NC), Method and apparatus for detecting the deposition of an adhesive on a travelling web.
  17. Olsson Christer H. K. (Enskede SEX), Method and device for counting sheet material.
  18. Stern, Howard; Krichever, Mark; Lawrence, Murray; Drannbauer, James, Method and system for providing a high definition triangulation system.
  19. Heinonen Ilkka (Tampere FIX) Hellsten Markku (Forssa FIX) Malm Timo (Tampere FIX), Method for checking the working condition of an optically operated proximity switch.
  20. Bo Su Chen, Multifunction optical sensor with variable detection threshold and noise suppression.
  21. Dabisch Kenneth W. (Bolingbrook IL) Richards John S. (Bolingbrook IL), Non-contact counter.
  22. Chow, Yeung Ming, Optical displacement sensor and distance measuring apparatus.
  23. Harsh, Kevin; Schaible, Brian; Zhang, Wenge; Garrett, William; Mattison, Christopher P., Optical sensor with biologically reactive surface.
  24. Harsh, Kevin; Schaible, Brian; Zhang, Wenge; Garrett, William, Optical sensor with chemically reactive surface.
  25. Halter Peter U. (Frauenfeld CHX), Process and apparatus for the non-contacting detection of edges of objects.
  26. Halter Peter U.,CHX, Process and device for the detection or determination of the position of edges.
  27. Miyahara, Katsutoshi; Kawabata, Takashi, Recording apparatus and control method.
  28. Furuta, Naofumi; Noda, Naoaki; Oi, Kunio, Reflection type sensor.
  29. Naofumi Furuta JP; Sadao Noda JP, System for detecting disk-shaped object such as semiconductor wafer or magnetic disk.
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