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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0023288 (2013-09-10) |
등록번호 | US-9074942 (2015-07-07) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 6 |
A method and apparatus for determining a temperature of a semiconductor device is provided herein. One aspect of the disclosed subject matter is seen in a temperature sensing device. The temperature sensing device comprises a diode and a circuit. The diode is adapted to be reverse biased by a chargi
1. A temperature sensing device, comprising: a diode adapted to be selectively reverse biased by a charging voltage; anda circuit adapted to determine a temperature of the diode based on detecting a parameter related to a reverse bias current flowing through the diode in response to a decoupling of
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