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Laser thickness gauge and method including passline angle correction 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/28
  • G01B-011/06
출원번호 US-0256416 (2014-04-18)
등록번호 US-9151595 (2015-10-06)
발명자 / 주소
  • Cook, Scott A.
  • Bertin, Michael C.
  • Baker, Derrick
출원인 / 주소
  • Advanced Gauging Technologies, LLC
대리인 / 주소
    Foster, Frank H.
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 8

초록

A laser thickness gauge has three laser displacement sensors each transmitting a laser beam onto a target web. Two sensors are spaced along the web and face one surface of the web and the third sensor faces the opposite surface. The thickness of a web that is positioned along a passline plane betwee

대표청구항

1. A laser thickness gauge for detecting the thickness of a target web extending along a passline plane, the gauge comprising: (a) a pair of laser displacement sensors each capable of transmitting a laser beam, spaced apart by an air gap distance A, and comprising a first laser sensor spaced from a

이 특허에 인용된 특허 (8)

  1. Bodlaj ; Viktor, Contact-free thickness measuring method and device.
  2. Bodlaj Viktor (Munich DEX), Device for contact-free thickness measurement.
  3. Bowles, Dennis Lee, Laser non-contact thickness measurement system.
  4. Katahira Toshiaki (Numazu JPX) Nitta Satoru (Numazu JPX), Method and apparatus for measuring the thickness of layers coated on opposite surfaces of sheet material.
  5. Duck, Graham I.; Hughes, Michael K. Y., Optical translation of triangulation position measurement.
  6. Jasinski,W. Ted; Haran,Frank M., Thin thickness measurement method and apparatus.
  7. Hellstrom, Ake; Naimi, Rambod; O'Hora, Michael, Web measurement device.
  8. King Harriss T. ; Haefner Peter, Web thickness measurement system.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Baker, Derrick, Laser gauge with full air gap measurement range.
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