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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0602447 (2015-01-22) |
등록번호 | US-9334582 (2016-05-10) |
우선권정보 | KR-10-2014-0018034 (2014-02-17) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 6 인용 특허 : 48 |
An apparatus for evaluating the quality of a crystal includes an optical device that measures a surface reflectance of a wafer in which a V-pit is formed; and a data processing unit that calculates a threading dislocation density by calculating a difference in surface reflectance of the wafer that i
1. A method of manufacturing a semiconductor light-emitting device, the method comprising: growing a wafer so that a surface feature is formed in one or more layers of the wafer for the semiconductor light-emitting device, the wafer including a first conductive layer, an active layer, and a second c
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