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Modular data storage device testing system 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G11B-020/00
  • G11B-020/18
출원번호 US-0695476 (2015-04-24)
등록번호 US-9412411 (2016-08-09)
발명자 / 주소
  • Rancour, Michael Louis
  • Herdendorf, Brett Robert
  • Anderson, Ronald Eldon
출원인 / 주소
  • Seagate Technology LLC
대리인 / 주소
    Hall Estill Attorneys at Law
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 19

초록

A data storage device testing system may be configured with at least a test slot, a loader assembly, and an exchange assembly. The loader assembly can be positioned to respectively engage and disengage a test deck with the test slot. The exchange assembly may be configured to open an access port por

대표청구항

1. A method comprising: providing a test slot, a loader assembly, and an exchange assembly arranged in a testing system;opening an access port portion of a test deck with the exchange assembly;replacing a first individual data storage component with a second individual data storage component with th

이 특허에 인용된 특허 (19)

  1. Rinard Gregory S., Apparatus and method for monitoring read/write reliability of data storage device.
  2. Fan Jackley,TWX, CD-ROM testing apparatus.
  3. Campbell, Levi A.; Chu, Richard C.; Ellsworth, Jr., Michael J.; Iyengar, Madhusudan K.; Simons, Robert E., Dehumidifying and re-humidifying cooling apparatus and method for an electronics rack.
  4. Lin, Tao; Lin, Gang, Disk drive component test system.
  5. Green,Paul M.; Ivett,Peter; Pang,Wyman, Disk pack swap process for evaluating magnetic recording performance.
  6. Coffman John Daniel ; Lorge Jeffrey Gordon, Dual mode leak detector.
  7. Merrow, Brian S., Enclosed operating area for disk drive testing systems.
  8. Wanek, Donald L.; Swanson, Loren L.; Sands, Richard L.; Troutman, Mark; Melville, James A., Environmental test chamber and a carrier for use therein.
  9. Ishikawa Masato,JPX, Flanged cover for a low profile magnetic disk apparatus.
  10. Guzik, Nahum; Arnold, Charles Brice; Chevlioukevitch, Vladimir M., Headstack locator assembly for testing magnetic heads.
  11. Hoyt Roger F. (San Jose CA) Jefferson Carl M. (San Jose CA) Millman Steven E. (Campbell CA), Magnetic transducer crash anticipation and response method and apparatus.
  12. Hunsaker Michael D. ; Darr Barry W., Method for assembling and electrical testing of a magnetic head.
  13. Pakzad,Mostafa; Trinh,Minh N.; Nelson,Ronald L.; Viglione,Joseph M.; Mang,James M.; Yolar,Suleyman Attila, Methods and systems for asynchronously testing a plurality of disk drives.
  14. Pakzad, Mostafa; Trinh, Minh H., Multi-drive adaptor for use in a slot of a disk drive test system.
  15. Warn, Ian Stanley; Atkins, Andrew William, Spinstands for testing a head gimbal assembly.
  16. Merrow, Brian S., Temperature control within disk drive testing systems.
  17. Merrow, Brian S.; Krikorian, Nicholas C., Test slot cooling system for a storage device testing system.
  18. Merrow, Brian S., Thermal control system for test slot of test rack for disk drive testing system with thermoelectric device and a cooling conduit.
  19. Guzik,Nahum; Ray,Forest E.; Arnold,Charles Brice, Vacuum chuck spinstand for testing magnetic heads and disks.
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