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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0749308 (2013-01-24) |
등록번호 | US-9430349 (2016-08-30) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 34 |
A scalable test platform includes a PCIe-based event fabric. One or more instrument subsystems are coupled to the PCIe-based event fabric and configured to interface one or more devices under test and generate captured test data. One or more digital signal processing subsystems are coupled to the PC
1. A scalable test platform comprising: one or more PCIe-based event fabrics, wherein the one or more PCIe-based event fabrics include one or more PCIe switches;one or more instrument subsystems coupled to the one or more PCIe-based event fabrics and configured to interface one or more devices under
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