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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) | G01N-033/44 G01N-021/25 G01N-021/3563 |
출원번호 | US-0046652 (2013-10-04) |
등록번호 | US-9541540 (2017-01-10) |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 | |
대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 10 |
A non-destructive method for determining an amount of temperature exposure to a Bismaleimide Resin (BMI) matrix substrate, the method includes determining component data of a Bismaleimide Resin (BMI) matrix component via fourier transform infrared (FTIR) spectroscopy; correlating the component data to model data to determine a structural debit from temperature exposure; and bounding a structurally damaged area in response to the correlating.
1. A non-destructive method for determining an amount of temperature exposure to a Bismaleimide Resin (BMI) matrix substrate, the method comprising: determining component data of a Bismaleimide Resin (BMI) matrix component via fourier transform infrared (FTIR) spectroscopy;correlating the component data to model data to determine a structural debit from temperature exposure; andbounding a structurally damaged area in response to the correlating. 2. The method as recited in claim 1, further comprising deeming areas on the component serviceable/unserviceab...