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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0581147 (2014-12-23) |
등록번호 | US-9546926 (2017-01-17) |
우선권정보 | KR-10-2014-0069234 (2014-06-09) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 48 |
A method for inspecting a light source module for defects includes preparing a board on which a light emitting device and a lens covering the light emitting device are installed. A current is applied to the light emitting device to turn on the light emitting device. The lens is imaged with the light
1. A method of inspecting a light source module for defects, the method comprising: preparing a board having thereon a light emitting device and a lens covering the light emitting device;applying a current to the light emitting device to turn on the light emitting device;imaging the lens with the li
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