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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0736139 (2015-06-10) |
등록번호 | US-9638749 (2017-05-02) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 47 |
In an embodiment, a test floor apparatus includes at least one conveyor, a vertical stack buffer, and an automated handling station. The vertical stack buffer is operable to hold a plurality of DUT (device under test) receptacles and operable to place a DUT receptacle on the at least one conveyor to
1. A test floor apparatus, comprising: at least one conveyor;a vertical stack buffer operable to hold a plurality of DUT (device under test) receptacles and operable to place a DUT receptacle on the at least one conveyor to enable a corresponding DUT to be inserted into the DUT receptacle;an automat
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