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연합인증

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Imaging test piece for medium and large security X-ray scanners 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01T-007/00
  • G01V-005/00
  • G01T-001/169
출원번호 US-0000903 (2009-06-25)
등록번호 US-9720114 (2017-08-01)
우선권정보 AU-2008903226 (2008-06-25)
국제출원번호 PCT/AU2009/000820 (2009-06-25)
§371/§102 date 20110328 (20110328)
국제공개번호 WO2009/155658 (2009-12-30)
발명자 / 주소
  • Blagojevic, Ned
  • Creagh, Dudley
출원인 / 주소
  • Australian Nuclear Science and Technology Organization
대리인 / 주소
    McDonnell Boehnen Hulbert & Berghoff LLP
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 6

초록

The invention provides a test device for assessing the detection capability of an X-ray system with a medium and/or large tunnel size. The device comprises a support and at least one test module mounted on the support. The device may optionally also comprise a stand which holds the support at a pred

대표청구항

1. A test device for assessing an X-ray system with a medium or a large tunnel size for its detection capability, the medium tunnel size ranging from 1 m to 1.3 m×1 m to 1.3 m and the large tunnel size being greater than 1.3 m×1.3 m, the device comprising: a support capable of holding at least one t

이 특허에 인용된 특허 (6)

  1. Aufrichtig Richard ; Tokman Alexander Y., Apparatus and method for automatic monitoring and assessment of image quality in x-ray systems.
  2. Flesher Robert W. ; Barnes Kevin J. ; Monteleone Michael, Collapsible container.
  3. Krug Kristoph D. (Framingham MA) Stein Jay A. (Framingham MA) Taylor Adam L. (Boston MA), Device and method for inspection of baggage and other objects.
  4. Karimi, Seemeen S.; Rozas, David; Simanovsky, Sergey; Bechwati, Ibrahim; Crawford, Carl R., Method and apparatus for automatic image quality assessment.
  5. Armistead Robert A. (Los Altos Hills CA), Straddle inspection system.
  6. Wang,Yuxin; Yun,Wenbing; Scott,David Dean, X-ray micro-tomography system optimized for high resolution, throughput, image quality.
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