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Infrared imaging system with automatic referencing 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01J-003/02
  • G01J-003/42
  • G01N-021/27
  • G01N-021/3563
  • G01N-021/55
  • G01J-003/10
  • G01J-003/28
  • G01N-021/47
출원번호 US-0788561 (2015-06-30)
등록번호 US-9739661 (2017-08-22)
발명자 / 주소
  • Ghetler, Andrew
  • Kleczewski, Adam
  • Tella, Richard P.
출원인 / 주소
  • Agilent Technologies, Inc.
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 11

초록

A method and apparatus for obtaining reference samples during the generation of a mid-infrared (MW) image without requiring that the sample being imaged be removed is disclosed. A tunable MIR laser generates a light beam that is focused onto a specimen on a specimen stage that moves the specimen in

대표청구항

1. An apparatus comprising: a tunable mid-infrared (MIR) laser that generates a light beam;a specimen stage adapted to carry a specimen to be scanned, said stage moving said specimen in a first direction;an optical assembly that focuses said light beam to a point on said specimen, said optical assem

이 특허에 인용된 특허 (11)

  1. Wang, Mark; Feng, Wenyi; Kain, Robert, Biological microarray line scanning method and system.
  2. Weida, Miles James; Pritchett, Russ; Amone, David F., Laser source that generates a plurality of alternative wavelength output beams.
  3. Han, Yang; Zhu, Miao; Kleczewski, Adam, Mid-infrared scanning system that differentiates between specular and diffuse scattering.
  4. Heffelfinger David M. ; Batterson Rebecca Ann ; Salgado Renato, Multi parameter scanner.
  5. Kalayeh,Hooshmand M., Multi-line tunable laser system.
  6. Vuong, T. Minh, Multiwell scanner and scanning method.
  7. Ouderkirk Steven J. ; Blair Alan ; Boettner Matthew C., Scanning confocal microscope with objective lens position tracking.
  8. Mizuno,Takeshi; Kawada,Hiroki, Scanning electron microscope and CD measurement calibration standard specimen.
  9. Treado,Patrick J.; Gardner, Jr.,Charles W., System and method for robot mounted sensor.
  10. Sopori Bhushan L. ; Allen Larry C. ; Marshall Craig ; Murphy Robert C. ; Marshall Todd, System for characterizing semiconductor materials and photovoltaic devices through calibration.
  11. Geiger Allen R. (300 No. Telshor Las Cruces NM 88001), Wavelength matched OPO/OPA unit.
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