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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0780825 (2010-05-14) |
등록번호 | US-9767342 (2017-09-19) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 1 인용 특허 : 145 |
In one embodiment of the invention, a method to image a probe array is described that includes focusing on a plurality of fiducials on a surface of an array. The method utilizes obtaining the best z position of the fiducials and using a surface fitting algorithm to produce a surface fit profile. One
1. A method for improving image flatness of a surface image of a probe array having an array surface roughness, the method comprising: imaging a plurality of fiducials at a plurality of z positions and determining a best z position measurement for each of the plurality of fiducials at which the imag
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