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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0973900 (2015-12-18) |
등록번호 | US-9921265 (2018-03-20) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 27 |
Featured are devices, systems and methods for testing an electronic device, such as an integrated chip. Such a testing method includes disposing a thermal clutch between a variable heat sink that absorbs heat energy and a heat source member that selectively delivers heat energy. When the thermal clu
1. A method for testing a device under test (DUT) comprising the steps of: disposing a thermal clutch adjacent to a variable heat sink that absorbs heat energy and a heat source member that selectively delivers heat energy; andselectively operating the thermal clutch in one of a first manner or a se
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