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Method and apparatus for detecting cracks and delamination in composite materials 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-029/12
  • G01M-007/00
  • G01N-029/28
  • G01N-029/44
출원번호 US-0843042 (2013-03-15)
등록번호 US-9933394 (2018-04-03)
발명자 / 주소
  • Ostapenko, Sergei
출원인 / 주소
  • Ostapenko, Sergei
대리인 / 주소
    Frijouf, Rust & Pyle, P.A.
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 25

초록

A method is disclosed for testing for delamination of a first composite component from a second composite component a composite material. The method comprises coupling a broad-band actuator to the composite material and connecting sweeping frequencies to the broad-band actuator for vibrating the com

대표청구항

1. A method for testing for delamination of a first composite component from a second composite component of a composite material, comprising the steps of: coupling a broad-hand actuator to the composite material;connecting sweeping frequencies to the broad-band actuator for vibrating the composite

이 특허에 인용된 특허 (25)

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  2. Stanke Fred E. ; Khuri-Yakub Butrus T. ; Pham Hung ; Hasan Talat, Apparatus and method for characterizing semiconductor wafers during processing.
  3. Borden,Peter G.; Li,Ji Ping, Apparatus and method for measuring a property of a layer in a multilayered structure.
  4. Migliori Albert (Santa Fe NM) Bell Thomas M. (Santa Fe NM) Rhodes George W. (Albuquerque NM), Crack detection using resonant ultrasound spectroscopy.
  5. Okumura,Katsuya; Matsumoto,Toshiyuki; Ikeuchi,Naoki; Yakabe,Masami, Device for inspecting micro structure, method for inspecting micro structure and program for inspecting micro structure.
  6. Ohtani Toshihiro,JPX ; Ogi Hirotsugu,JPX ; Hirao Masahiko,JPX, Electromagnetic acoustic transducer EMAT and inspection system with EMAR.
  7. Johnson Ward L. ; Alers George A. ; Auld Bertram A., Electromagnetic acoustic transducer and methods of determining physical properties of cylindrical bodies using an electr.
  8. Yamada, Tetsuo; Nagao, Keigo; Hashimoto, Chisen; Akiyama, Morito; Ueno, Naohiro; Tateyama, Hiroshi, Film bulk acoustic resonator.
  9. Masaaki Sugimoto JP, Inspection and analyzing apparatus for semiconductor integrated circuit and inspection and analyzing method.
  10. Pechersky Martin (Aiken SC), Method and apparatus for determining material structural integrity.
  11. Ostapenko, Sergei, Method and apparatus for in-line quality control of wafers.
  12. Tsuboi Kiyoshi (Musashino JPX) Yamamoto Shigeharu (Yokohama JPX), Method and apparatus for predicting the life of an object to be measured using longitudinal waves.
  13. Parker Kevin J. (Rochester NY) Lerner Robert M. (Rochester NY) Huang Sung-Rung (Rochester NY), Method and apparatus for using Doppler modulation parameters for estimation of vibration amplitude.
  14. Hedberg, Claes; Sutin, Alexander; Johnson, Paul A., Method and device for detecting damage in materials or objects.
  15. Hyoguchi Takao (Sagamihara JPX) Kawashima Katsuhiro (Sagamihara JPX), Method for measuring properties of cold rolled thin steel sheet and apparatus therefor.
  16. Pagano Dominick ; Mackay Brian ; Norris James, Method for real-time ultrasonic testing system.
  17. Sergei Ostapenko, Method of detecting and monitoring stresses in a semiconductor wafer.
  18. Hamamatsu,Akira; Noguchi,Minori; Ohshima,Yoshimasa; Nishiyama,Hidetoshi; Oka,Kenji; Ninomiya,Takanori; Tanaka,Maki; Watanabe,Kenji; Watanabe,Tetsuya; Morishige,Yoshio, Method of inspecting a semiconductor device and an apparatus thereof.
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  20. Gaudreau Marcel P. J. ; Weisenseel Robert A., Resonant sensor system and method.
  21. Foley Michael S. (Beverly MA), Substrate handling system.
  22. Takata Keiji (Tokorozawa JPX) Shimizu Hiromichi (Hoya JPX) Hosoki Shigeyuki (Hachioji JPX) Hosaka Sumio (Tokyo JPX), Surface measuring apparatus using a probe microscope.
  23. Shiba Masataka,JPX ; Watanabe Kenji,JPX ; Hamada Toshimitsu,JPX ; Ishikawa Seiji,JPX ; Go Naoki,JPX ; Yachi Toshiaki,JPX ; Watanabe Tetsuya,JPX ; Jingu Takahiro,JPX, System for quality control where inspection frequency of inspection apparatus is reset to minimize expected total loss based on derived frequency function and loss value.
  24. Schwarm,Alexander T., System, method, and medium for monitoring performance of an advanced process control system.
  25. Patrick G Rafter ; Jodi Lisa Tuck Perry ; Jie Chen, Wideband phased-array transducer for uniform harmonic imaging, contrast agent detection, and destruction.
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