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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0971644 (2015-12-16) |
등록번호 | US-9940986 (2018-04-10) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 9 |
The present disclosure relates to semiconductor structures and, more particularly, to electrostatic discharge (ESD) protection structures for eFuses. The structure includes an electrostatic discharge (ESD) protection structure operatively coupled to an eFuse, which is structured to prevent unintenti
1. A structure comprising an electrostatic discharge (ESD) protection structure operatively coupled to an eFuse, the ESD protection structure being structured to prevent unintentional programming of the eFuse due to an ESD event originating at a source and a power clamp which is structured to protec
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