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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0820653 (2015-08-07) |
등록번호 | US-10088376 (2018-10-02) |
우선권정보 | KR-10-2014-0119371 (2014-09-05) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 26 |
An apparatus and method for measuring a contact pressure and a method of manufacturing the apparatus. The apparatus includes: a material layer configured to provide a light path along which incident light travels to a subject being in contact with the material layer; a spectrum analyzer configured t
1. An apparatus for measuring a contact pressure, the apparatus comprising: a first material layer configured to provide a light path along which incident light travels to a subject being in contact with the first material layer;a spectrum analyzer configured to detect light emitted from the first m
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