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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0982324 (2015-12-29) |
등록번호 | US-10138005 (2018-11-27) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 11 |
Methods and systems may provide for a structure having a plurality of interconnected panels, wherein each panel has a plurality of detection layers separated from one another by one or more non-detection layers. The plurality of detection layers may form a grid of conductive traces. Additionally, a
1. A method comprising: transmitting a test signal to a plurality of interconnected panels, wherein each panel has a plurality of detection layers that form a grid of conductive traces and wherein each detection layer includes one or more known defect traces, and wherein the panel has a trace contin
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