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Optical deformation detection sensor and system having a material disposed on the inner surface of an elongated hollow housing 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01D-005/353
출원번호 US-0646138 (2017-07-11)
등록번호 US-10180337 (2019-01-15)
발명자 / 주소
  • Bradbury, Jonathan
  • Fry, Jonathan
  • Kane, Michael
출원인 / 주소
  • International Business Machines Corporation
대리인 / 주소
    Maranzano, Teddi E.
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 10

초록

An optical sensor and a deformation detection system in which the optical sensor is used. The optical sensor includes an optical fiber, an elongated hollow housing having an interior portion, and a material disposed on an inner surface of the housing that produces a persistent change in an optical s

대표청구항

1. An optical sensor, comprising: an optical fiber;an elongated hollow housing having an interior portion defined by the inner surface and opposing ends of the hollow housing; anda material disposed on the inner surface of the housing that will produce a persistent change in an optical signal transm

이 특허에 인용된 특허 (10)

  1. Coomer, Stephen D.; McIntee, John Francis; Iha, Jozsef Michael; Borra, Robert T.; Lusby, Eric; Lombardi, Michael J., Apparatus and methods for manipulating semiconductor wafers.
  2. Pope, Jr., Ralph E.; Watkins, Jr., Kenneth S.; Morris, Jr., Shelby J., Fiber optic damage sensor for wire and cable.
  3. Eide John E. (Fincastle VA) Leonard Teddy W. (Troutville VA), Fiber optic sensor module.
  4. Bangera, Mahalaxmi Gita; Baym, Michael H.; Diaz, Roy P.; Hyde, Roderick A.; Ishikawa, Muriel Y.; Jung, Edward K. Y.; Kare, Jordin T.; Lieberman, Erez; Myhrvold, Nathan P.; Rivet, Dennis J.; Smith, Michael A.; Sweeney, Elizabeth A.; Wood, Jr., Lowell L., Material, system, and method that provide indication of a breach.
  5. Dishongh Terrance J. ; Pullen David H., Method and apparatus for early detection of reliability degradation of electronic devices.
  6. Terrance J. Dishongh ; David H. Pullen, Method and apparatus for early detection of reliability degradation of electronic devices.
  7. Terrance J. Dishongh ; David H. Pullen ; Gregory F. Taylor, Method and apparatus for early detection of reliability degradation of electronic devices.
  8. Dang, Hien; Sri-Jayantha, Sri, Method to monitor substrate viability by a sensor mounted to a substrate.
  9. Griffiths Richard W. (14976 La Cumbra Dr. Pacific Palisades CA 90272), Structural monitoring system using fiber optics.
  10. Iida, Naruaki; Ito, Kazuhiko; Kinoshita, Michio, Substrate processing apparatus and method of aligning substrate carrier apparatus.
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