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반도체 집적회로 전기적 특성검사 및 신뢰성검사
ELECTRICAL CHARACTERISTICS TEST AND RELIABILITY TEST OF THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUITS 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 한국전자통신연구원
Electronics and Telecommunications Research Institute
연구책임자 강영일
참여연구자 김경수 , 박흥옥 , 김병환 , 주철원 , 공영화 , 임신일 , 김성민 , 김동근 , 허준영 , 김미순 , 김화경 , 박상숙 , 박말선
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월1986-03
주관부처 과학기술부
과제관리전문기관 한국전자통신연구원
Electronics and Telecommunications Research Institute
등록번호 TRKO200200000963
DB 구축일자 2013-04-18

초록

선형 및 계수형 VLSI 시험검사를 위하여 반도체 소자마다 test parameter, test methode 및 test spec. 을 확정하고 test procedure를 정하여 computerized test system에 맞는 test program 및 test kit를 개발하여 반도체 소자의 동작여부를 검사할 수 있도록 하며, 시험검사 결과를 이용하여 지속적인 수율을 유지하고 생산성 향상을 위한 DATA를 공정에 제공하기 위하여 다양한 분석 Program을 개발한다.

목차 Contents

  • 제1장 통신용 ICs 시험방법 개발...17
  • 제1절 서 론...17
  • 제2절 CODECs test...17
  • 제3절 Filters test...32
  • 제4절 SLICs tst...44
  • 제2장 민수용 집적회로 test program개발...53
  • 제1절 서 론...53
  • 제2절 D.C testing...54
  • 제3절 VCO testing...59
  • 제4절 A.C testing...60
  • 제5절 Functional testing...71
  • 제3장 산업용 집적회로의 test program 개발...87
  • 제1절 서 론...87
  • 제2절 test loop...87
  • 제3절 test parameter...88
  • 제4장 Memory Device와 Microcomputer(8749)의 전기적 특성...100
  • 제1절 서 론...100
  • 제2절 memory fault와의 정의...101
  • 제3절 memory array검사...107
  • 제4절 Bit fail map에 따른 pattern인식...112
  • 제5절 Hmos Single-chip EPROM micro computer TEST...117
  • 제5장 신뢰성시험 및 품질보증...132
  • 제1절 서 론...132
  • 제2절 고장원인(failure mechanism) 및 신뢰도 함수...133
  • 제3절 시험방법 및 표본검사...160
  • 제4절 품질보증...177
  • 제6장 웨이퍼 공정관리...183
  • 제1절 서 론...183
  • 제2절 실험내용...184
  • 제3절 결 론...196
  • 제7장 반도체 소자의 수입 검사 절차...199
  • 제1절 수입검사...199
  • 제2절 외관검사...219
  • 제3절 수탁사업...227

연구자의 다른 보고서 :

참고문헌 (25)

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