선택한 단어 수는 입니다.
최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
선택한 단어 수는 30입니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기주관연구기관 | 한국전자통신연구원 Electronics and Telecommunications Research Institute |
---|---|
연구책임자 | 강영일 |
참여연구자 | 김경수 , 박흥옥 , 김병환 , 주철원 , 공영화 , 임신일 , 김성민 , 김동근 , 허준영 , 김미순 , 김화경 , 박상숙 , 박말선 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 1986-03 |
주관부처 | 과학기술부 |
과제관리전문기관 | 한국전자통신연구원 Electronics and Telecommunications Research Institute |
등록번호 | TRKO200200000963 |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
선형 및 계수형 VLSI 시험검사를 위하여 반도체 소자마다 test parameter, test methode 및 test spec. 을 확정하고 test procedure를 정하여 computerized test system에 맞는 test program 및 test kit를 개발하여 반도체 소자의 동작여부를 검사할 수 있도록 하며, 시험검사 결과를 이용하여 지속적인 수율을 유지하고 생산성 향상을 위한 DATA를 공정에 제공하기 위하여 다양한 분석 Program을 개발한다.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.