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NTIS 바로가기주관연구기관 | 한국표준과학연구원 Korea Research Institute of Standards and Science |
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연구책임자 | 이확주 |
참여연구자 | 조양구 , 김창수 , 박현민 , 송용원 , 김용일 , 김주황 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2001-10 |
주관부처 | 과학기술부 |
사업 관리 기관 | 한국표준과학연구원 Korea Research Institute of Standards and Science |
등록번호 | TRKO200300002696 |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
키워드 | 광역 X-선 흡수 미세 구조(EXAFS) 장치개발.극미세 구조분석.Extended X-ray Absorption FIne Structure(EXAFS).Development of EXAFS.Ultrafine structural analysis. |
EXAFS(Extended X-ray Absorption Fine Structure)는 흡수단 부근에서의 에너지에 따른 흡수율이 진동하는 현상을 해석하여 재료(단결정, 다결정, 비정질등)의 국소구조(local structure)를 밝힐 수 있는 첨단분석기법이다. 본 연구에서는 이러한 첨단분석기기를 설계, 가공, 조립 모두를 자체기술로 수행하여 제작하였고, 또한 기기의 구동 및 해석프로그램을 제작하였다.
EXAFS(Extended X-ray Absorption Fine Structure) is new analytical method which can be determined the local structure of the various naterials such as poly-crystalline, single crystal, and amorphous by interpreting the oscillation in absorption edge. In this study, EXAFS was manufactured through the
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