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연합인증

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레인보우 모아레 간섭원리를 이용한 초고속 3차원 측정 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 시냅스이미징(주)
연구책임자 김재선
참여연구자 이고르 , 유주상 , 고진욱 , 이은수 , 정재훈
보고서유형최종보고서
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월2006-05
과제시작연도 2005
주관부처 정보통신부
사업 관리 기관 정보통신연구진흥원
Institute for Information Technology Advancement
등록번호 TRKO201000017794
과제고유번호 1440002274
사업명 IT우수신기술지정지원(기금)
DB 구축일자 2013-04-18

초록

SMT보드 제조 공정에서 Screen Printer에 의하여 도포된 솔더페이스트의 두
께, 체적, 위치, 면적 등을 인라인 상에서 실시간으로 측정하여 부적합하게 도포
된 불량기판이 후공정으로 혼입되지 않도록 하는 3차원 솔더페이스트 검사기의
시작품을 개발하였다. 우선, 인라인으로 솔더페이스 불량을 검사하기에 충분한
속도 및 분해능을 갖는 3차원 측정센서를 개발하였다. 다음으로 이를 활용하여
인라인 상에서 자동으로 검사가 수행될 수 있는 검사기 시작품을 개발하였다. 또
한, 검사결과를 기반으로 불량수리

목차 Contents

  • 제출문 ...1
  • 요약문 ...2
  • 목차 ...9
  • 제1장 서론 ...12
  • 제1절 기술개발의 개요 ...12
  • 1. 기술개발의 배경 ...12
  • 2. 최근 연구동향 ...17
  • 가. Laser를 이용한 삼각측량 (Triangulation) 방식 ...17
  • (1) Point Laser 방식 ...18
  • (2) Slit Beam Laser 방식 ...18
  • 나. Camera를 이용한 화상처리 방식 ...19
  • (1) Stereo 방식...19
  • (2) Confocal Imaging방식 ...19
  • (3) Interferometry 방식 ...20
  • (4) Moire 방식 ...20
  • 제2절 기술개발의 목적 ...24
  • 1. 기술개발의 중요성 ...24
  • 2. 시장성 ...26
  • 제2장 3차원 형상 측정 프로브 ...29
  • 1. INTRODUCTION ...31
  • 2. PHASE SHIFT BASED MEASUREMENT ...33
  • 3. TYPES OF DISTORSIONS AND THEIR INFLUENCE ...35
  • 4. EXPERIMENTAL RESULTS ...38
  • 5. CONCLUSIONS ...45
  • 제3장 솔더페이스트 검사기 시제품 ...48
  • 제1절 장비의 사용 ...48
  • 1. 개요 ...48
  • 2. 시스템 가동준비 및 시스템 가동, 종료 ...56
  • 3. 원점 복귀 및 워밍-엎 ...58
  • 4. 작업PCB 프로그램 취급 ...61
  • 검사 작업 수행(INSPECTION) ...66
  • 6. TEACH ...73
  • 7. 매뉴얼 실행 ...80
  • 8. 모니터링 ...87
  • 9. PREFERENCE ...90
  • 제2절 SPC 프로그램 ...92
  • 1. 프로그램 개요 ...92
  • 2. 화면구성 및 기능 ...93
  • 제3절 유지보수 ...96
  • 1. 유지보수 개요 ...96
  • 2. 정기점검 일정표 ...97
  • 제4장 거버이용 자동 프로그램 툴 ...116
  • 제1절 개요 ...116
  • 1. 용어설명 ...117
  • 제2절 구성 ...122
  • 1. 전체화면 ...122
  • 2. 메뉴 ...123
  • 3. 도구 바 ...127
  • 4. 상태 바 ...127
  • 5. 패드 바 ...128
  • 6. 메인뷰 ...131
  • 제3절 작업순서 ...133
  • 1. 데이터 흐름 ...133
  • 2. 작업순서 ...134
  • 3. 기본 작업의 예 ...137
  • 제4절 기능 ...144
  • 1. FILE ...144
  • 2. SELECT ...160
  • 3. EDIT ...165
  • 4. SETUP ...176
  • 5. VIEW ...196
  • 6. HELP ...203
  • 제5장 결론 ...204
  • 제1절 기술개발결과 ...204
  • 1. 검사성능 지표 ...204
  • 2. 광학, 스프트웨어, PROCESSOR규격 ...205
  • 3. 기계, 전장시스템 규격 ...206
  • 4. 주요성능지표 ...209
  • 제2절 활용방안 및 기대효과 ...209
  • 제3절 상용화 계획 ...211

연구자의 다른 보고서 :

참고문헌 (25)

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