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Machine vision system을 이용한 얼룩 전용 자동검사 장비 개발 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 금오공과대학교 산학협력단
Kumoh National Institute of Technology
보고서유형최종보고서
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월2014-06
과제시작연도 2013
주관부처 중소기업청
Small and Medium Business Administration
등록번호 TRKO201400021517
과제고유번호 1425080680
사업명 첫걸음기술개발사업
DB 구축일자 2014-11-10

초록

1. 최종목표
◦ 평판 디스플레이, 각종 필름 제품, 반도체 관련 모듈 등의 표면상에 얼룩 등의 불량을 효과적으로 검사하기 위해 Line Scan Camera와 특성화된 조명시스템을 사용한 머신비젼 시스템을 구성하여 최소 검출 불량의 크기, 불량 검출을 위한 광학계 구성, 검사시간 등을 만족하는 최적의 Machine vision 자동 검사 장비를 구현.
◦ 얼룩 불량 검출력
- 최소 검출 얼룩 불량 크기 : 30 ㎛ (Camera 해상도 : 15㎛)
- 검출율 : 95% 이상
◦ 얼룩 결함 검사를 위한 최

목차 Contents

  • 표지 ... 1
  • 개발결과의견서 ... 2
  • 최종보고 요약서 ... 3
  • 최종보고서 작성순서 및 목차 ... 5
  • 제 1 장 서론 ... 6
  • 제 1 절 기술개발 중요성 및 필요성 ... 6
  • 제 2 절 관련기술 현황 ... 7
  • 제 2 장 과제개발 내용 및 방법 ... 10
  • 제 1 절 개발 목표 ... 10
  • 제 2 절 개발 내용 및 방법 ... 12
  • 1. 얼룩 불량 검사를 위한 주요 불량 기준 결정 ... 12
  • 2. 불량검출을 위한 광학계 구성 ... 16
  • 3. 불량 검출을 위한 검사 System 구축 ... 19
  • 4. 검사대상물 이송 장치에 대한 진동량 신뢰도 평가 ... 23
  • 5. 얼룩 불량의 검출을 위한 알고리즘의 구축 및 비젼프로그램의 구현 ... 25
  • 제 3 장 사업성과 ... 42
  • 제 1 절 기술적 성과 ... 42
  • 제 2 절 경제적 성과 ... 44
  • 제 3 절 기타 성과 ... 45
  • 제 4 절 개발결과 활용계획 ... 48
  • 제 4 장 결론 ... 49
  • 제 1 절 기술적 의미 ... 49
  • 제 2 절 향후 계획 ... 50
  • 끝페이지 ... 50

표/그림 (29)

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참고문헌 (25)

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