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NTIS 바로가기주관연구기관 | 금오공과대학교 산학협력단 Kumoh National Institute of Technology |
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보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2014-06 |
과제시작연도 | 2013 |
주관부처 | 중소기업청 Small and Medium Business Administration |
등록번호 | TRKO201400021517 |
과제고유번호 | 1425080680 |
사업명 | 첫걸음기술개발사업 |
DB 구축일자 | 2014-11-10 |
1. 최종목표
◦ 평판 디스플레이, 각종 필름 제품, 반도체 관련 모듈 등의 표면상에 얼룩 등의 불량을 효과적으로 검사하기 위해 Line Scan Camera와 특성화된 조명시스템을 사용한 머신비젼 시스템을 구성하여 최소 검출 불량의 크기, 불량 검출을 위한 광학계 구성, 검사시간 등을 만족하는 최적의 Machine vision 자동 검사 장비를 구현.
◦ 얼룩 불량 검출력
- 최소 검출 얼룩 불량 크기 : 30 ㎛ (Camera 해상도 : 15㎛)
- 검출율 : 95% 이상
◦ 얼룩 결함 검사를 위한 최
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