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NTIS 바로가기주관연구기관 | 한국기계연구원 부설 재료연구소 |
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연구책임자 | 한병동 |
참여연구자 | 안철우 , 김종우 , 박영조 , 김영국 , 송영섭 , 최종진 , 고재웅 , 이정구 , 임재홍 |
보고서유형 | 1단계보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2016-01 |
과제시작연도 | 2015 |
주관부처 | 미래창조과학부 KA |
사업 관리 기관 | 국가과학기술연구회 National Research Council of Science & Technology |
등록번호 | TRKO201600000290 |
과제고유번호 | 1711033516 |
DB 구축일자 | 2016-04-09 |
키워드 | 질화규소,질화알루미늄,후막,열계면소재,전극Si3N4,AlN,Thick film,Thermal Interface Materials,Electrode |
ㅇ 고신뢰성 고열전도 질화규소 세라믹 기판소재
- Si 원료분말 순도 제어를 통해 열전도도가 높고, 꺾임강도가 우수한 질화규소 기판을 제조하였음.(1500℃-1h 반응소결, 1950℃-12h 후소결 → 열전도도 92 W/m·K, 꺾임강도 620MPa)
- 결정립 성장을 촉진시키고, 결정성이 높은 입계상을 형성시키는 신조성의 Y2O3-Sc2O3 소결조제 시스템을 개발하여 기존 Y2O3-MgO 소결조제 시스템
4. Research Results
- Silicon nitride substrate materials with thermal conductivity of 92 W/m·K and flexural strength of 620 MPa were successfully fabricated.
- 30㎛-thick AlN film deposited on Al showed the improved heat dissipation, compared to metal PCB system.
- Novel thermal conductive
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