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NTIS 바로가기주관연구기관 | (주)진성전자 |
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연구책임자 | 권기현 |
참여연구자 | 이준범 , 박종익 , 신동원 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2016-10 |
과제시작연도 | 2015 |
주관부처 | 산업통상자원부 Ministry of Trade, Industry and Energy |
등록번호 | TRKO201700006881 |
과제고유번호 | 1415141653 |
사업명 | 산업집적지경쟁력강화(R&D) |
DB 구축일자 | 2017-10-12 |
키워드 | 자동광학 설비.표면실장기술.양면 검사.평면.가성 불량.라인 스캔.AOI.SMT.Dual Inspection.2D.False Defect.Line Scan. |
최종목표
표면실장 PCB의 양면 검사를 위한 AOI 장비의 국산화 개발
O 고밀도 실장 검사용 해상도 10㎛ CCD Line Sensor Camera 적용.
O 다단 동축낙사 조명, Telecentric Lens 활용한 평면 정도가 높은 화상 촬상 체계 구축.
O PCB 상하면의 동시 촬상 및 검사 구조.
O Table이 이동되는 Scan 방식. (반복 정도의 안정성, 호환성 등)
O 하드웨어 보드는 기능별 모듈화.
O 영상 처리 S/W, 검사 알고리즘 S/W 개발
O 본 알고리즘을 이용한
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