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표면실장 PCB의 양면 검사를 위한 AOI 장비의 국산화 개발 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 (주)진성전자
연구책임자 권기현
참여연구자 이준범 , 박종익 , 신동원
보고서유형최종보고서
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월2016-10
과제시작연도 2015
주관부처 산업통상자원부
Ministry of Trade, Industry and Energy
등록번호 TRKO201700006881
과제고유번호 1415141653
사업명 산업집적지경쟁력강화(R&D)
DB 구축일자 2017-10-12
키워드 자동광학 설비.표면실장기술.양면 검사.평면.가성 불량.라인 스캔.AOI.SMT.Dual Inspection.2D.False Defect.Line Scan.

초록

최종목표
표면실장 PCB의 양면 검사를 위한 AOI 장비의 국산화 개발
O 고밀도 실장 검사용 해상도 10㎛ CCD Line Sensor Camera 적용.
O 다단 동축낙사 조명, Telecentric Lens 활용한 평면 정도가 높은 화상 촬상 체계 구축.
O PCB 상하면의 동시 촬상 및 검사 구조.
O Table이 이동되는 Scan 방식. (반복 정도의 안정성, 호환성 등)
O 하드웨어 보드는 기능별 모듈화.
O 영상 처리 S/W, 검사 알고리즘 S/W 개발
O 본 알고리즘을 이용한

목차 Contents

  • 표지 ... 1산단R&BD역량강화사업 지원사업 최종보고서 ... 2최종보고서 초록 ... 3기술개발사업 주요 연구성과 ... 10목차 ... 13제 1 장 서론 ... 14 제 1 절 과제의 개요 ... 14 제 2 절 개발의 개요 ... 14 제 3 절 PCB 양면 검사기술의 요약 ... 15제 2 장 과제 수행의 내용 및 결과(기술개발 내용 및 방법) ... 17 제 1 절 최종 목표 및 평가 방법 ... 17 제 2 절 연차별 개발 내용 및 개발 범위 ... 19제 3 장 결과 및 사업화 계획 ... 74 제 1 절 연구개발 최종 결과 ... 74 1. 연구개발 추진 일정 ... 74 2. 연구개발 추진 실적 ... 75 제 2 절 연구개발 추진 체계 ... 81 제 3 절 시장 현황 및 사업화 전망 (당초 기술개발 시작 시점의 조사와 변화된 것 위주 기술) ... 83 제 4 절 고용 창출 효과 ... 83 제 5 절 자체보안관리진단표 ... 84끝페이지 ... 84

표/그림 (57)

참고문헌 (25)

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