$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

빅데이터 분석 기반의 반도체 DRAM 웨이퍼 분석 알고리즘 개발
Methodology for Mining Semiconductor DRAM Wafer Maps Based on Big Data Analytics 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 전남대학교
Chonnam National University
연구책임자 정영선
보고서유형최종보고서
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월2018-11
과제시작연도 2017
주관부처 과학기술정보통신부
Ministry of Science and ICT
등록번호 TRKO201900025490
과제고유번호 1711059526
사업명 개인기초연구(미래부)
DB 구축일자 2020-08-29
키워드 반도체 웨이퍼.불확실성.웨이블릿.고차원 데이터.기계학습.DRAM.

초록

연구개요
본 연구에서는 빅데이터 분석을 기반으로 하는 DRAM (Dynamic Random Access Memory) 웨이퍼의 불량 칩 패턴을 탐지/분석할 수 있는 검사 시스템 알고리즘을 개발하고자 한다. 반도체 웨이퍼 데이터를 활용한 기존의 연구들은 주로 플래시 메모리 웨이퍼를 대상으로 이루어졌다. 하지만 모바일 기기의 대량 생산으로 DRAM 웨이퍼의 수요가 급등하며 DRAM 웨이퍼의 검사 시스템 알고리즘 개발이 요구되고 있다. 실제 생산되고 있는 웨이퍼를 살펴보면 하나의 웨이퍼 맵에 여러 개의 불량패턴이 혼재되어 있는 경우

목차 Contents

  • 표지 ... 1연구결과 요약문 ... 2목차 ... 41. 연구개발과제의 개요 ... 5 가. 연구목표 ... 5 나. 연구의 필요성 및 중요성 ... 62. 연구수행내용 및 연구결과 ... 7 가. 1차년도 연구 추진 전략 및 연구방법 ... 7 나. 2차년도 연구 추진 전략 및 연구방법 ... 11 다. 3차년도 연구 추진 전략 및 연구방법 ... 123. 연구개발결과의 중요성 ... 144. 참고문헌 ... 155. 연구성과 ... 16대표적 연구실적 ... 19끝페이지 ... 28

표/그림 (10)

참고문헌 (25)

섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로