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보고서 상세정보

빅데이터 분석 기반의 반도체 DRAM 웨이퍼 분석 알고리즘 개발

Methodology for Mining Semiconductor DRAM Wafer Maps Based on Big Data Analytics

과제명 빅데이터 분석 기반의 반도체 DRAM 웨이퍼 분석을 위한 방법론 개발
주관연구기관 전남대학교
Chonnam National University
보고서유형 최종보고서
발행국가 대한민국
언어 한국어
발행년월 2018-11
과제시작년도 2017
주관부처 과학기술정보통신부
Ministry of Science and ICT
등록번호 TRKO201900025490
과제고유번호 1711059526
사업명 개인기초연구(미래부)
DB 구축일자 2020-08-29
키워드 반도체 웨이퍼.불확실성.웨이블릿.고차원 데이터.기계학습.DRAM.
연구과제
타임라인
과제명
빅데이터 분석 기반의 반도체 DRAM 웨이퍼 분석을 위한 방법론 개발
과제기간
2016 ~ 2017
총연구비 ...
초록

연구개요
본 연구에서는 빅데이터 분석을 기반으로 하는 DRAM (Dynamic Random Access Memory) 웨이퍼의 불량 칩 패턴을 탐지/분석할 수 있는 검사 시스템 알고리즘을 개발하고자 한다. 반도체 웨이퍼 데이터를...