$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Polycrystalline NiO Thin Films Applicable to Nano-Storage Media
Polycrystalline NiO Thin Films Applicable to Nano-Storage Media

Journal of the Korean Physical Society v.52 2008년, pp.108 - 111  

Inrok Hwang (Konkuk Univ.) ,  박배호 (Konkuk Univ.) ,  Dongchul Kim (Samsung Advanced Institute of Technology) ,  Inkyung Yoo (Samsung Advanced Institute of Technology) ,  Jinho Lee (Konkuk Univ.) ,  Jinsik Choi (Konkuk Univ.) ,  Jinsoo Kim (Konkuk Univ.) ,  Sahwan Hong (Konkuk Univ.) ,  Sangho Jeon (Konkuk Univ.) ,  Sanghoon Kim (Konkuk Univ.) ,  Sunae Seo (Samsung Advanced Institute of Technology) ,  강성웅 (Konkuk Univ.) ,  Yong-Il Kim (KRISS)

초록
AI-Helper 아이콘AI-Helper

We have investigated local electrical properties of NiO thin filmsapplicable to nano-storage devices. Polycrystalline NiO thin filmswere deposited on Pt/Ti/SiO2/Si substrates by dc magnetronreactive sputtering methods. X-ray diffraction (XRD) data have shownthat polycrystalline NiO films without second phases were grown onthe substrates. We also observed root mean square roughness of 1.9nm in the 15μm × 15 μm area of a NiO film by usingatomic force microscopy (AFM) mode. Using conducting atomic forcemicroscopy (C-AFM) mode, we measured the change in local currentdistribution and found that the grown NiO films exhibited excellentresistance switching behavior at the nanoscale and good retentionbehavior of the written nano-sized domains. Moreover, weinvestigated the relation between pulse height and bit size. It waspossible to write 8×8 bits in 4×4 μm² area andto store digital information corresponding to several Gbit/inch². Therefore, we successfully showed the feasibility of NiO films asmedia for nano-storage devices.

관련 콘텐츠

섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로