생산시스템은 기계의 고장이나 작업자의 실수, 원자재 불량이나 잘못된 환경에 의한 작업 실패가 발생하므로 데드라인이나 예정 납기일을 맞추어 생산하는 것이 쉽지 않다. 여분의 기계를 두면 기계 고장이 일어났을 경우 시간 손실을 줄일 수 있는 반면에 불필요한 비용의 손실을 야기한다. 본 논문에서는 최소의 비용을 들일 수 있는 최소 여분기계의 대수를 구하는 방법을 연구한다. 이를 위해 본 논문에서는 CTPNs(Colored Timed Petri-Nets)을 이용하여 각각의 실제 공정에 관여하는 기계고장과 작업실패에 관한 파라미터를 적용시킨 시스템을 모델링하고, 여분의 기계를 두었을 때 얻을 수 있는 시간 이득을 계산한다. 또한 반도체 생산 시스템과 같이 반복적이고 많은 공정을 거치는 복잡한 시스템에서 동일한 작업을 하는 기계의 대수가 많아지면 시스템의 모델링이 더욱 복잡해지기 때문에 이러한 공정을 단순화시키기 위해 같은 작업을 하는 여러 대의 기계로 구성된 공정을 하나의 모듈로 재구성하고, 재구성한 모듈들을 각 모듈단위로 여분의 기계를 두었을 때의 이득을 계산한다. 마지막으로 이렇게 제안된 모델을 이용해 각각 적용된 기계고장과 작업실패에 관여하는 파라미터를 변화시키면서 ...
생산시스템은 기계의 고장이나 작업자의 실수, 원자재 불량이나 잘못된 환경에 의한 작업 실패가 발생하므로 데드라인이나 예정 납기일을 맞추어 생산하는 것이 쉽지 않다. 여분의 기계를 두면 기계 고장이 일어났을 경우 시간 손실을 줄일 수 있는 반면에 불필요한 비용의 손실을 야기한다. 본 논문에서는 최소의 비용을 들일 수 있는 최소 여분기계의 대수를 구하는 방법을 연구한다. 이를 위해 본 논문에서는 CTPNs(Colored Timed Petri-Nets)을 이용하여 각각의 실제 공정에 관여하는 기계고장과 작업실패에 관한 파라미터를 적용시킨 시스템을 모델링하고, 여분의 기계를 두었을 때 얻을 수 있는 시간 이득을 계산한다. 또한 반도체 생산 시스템과 같이 반복적이고 많은 공정을 거치는 복잡한 시스템에서 동일한 작업을 하는 기계의 대수가 많아지면 시스템의 모델링이 더욱 복잡해지기 때문에 이러한 공정을 단순화시키기 위해 같은 작업을 하는 여러 대의 기계로 구성된 공정을 하나의 모듈로 재구성하고, 재구성한 모듈들을 각 모듈단위로 여분의 기계를 두었을 때의 이득을 계산한다. 마지막으로 이렇게 제안된 모델을 이용해 각각 적용된 기계고장과 작업실패에 관여하는 파라미터를 변화시키면서 시뮬레이션을 통해 여분의 기계를 두었을 때 얻을 수 있는 시간 이득을 검증하고, 실제 생산공정의 하나인 반도체 switching 공정에 적용시켜 데드라인을 지킬 수 있는 최소 여분기계 대수를 구하여 그 실용성을 검증한다.
생산시스템은 기계의 고장이나 작업자의 실수, 원자재 불량이나 잘못된 환경에 의한 작업 실패가 발생하므로 데드라인이나 예정 납기일을 맞추어 생산하는 것이 쉽지 않다. 여분의 기계를 두면 기계 고장이 일어났을 경우 시간 손실을 줄일 수 있는 반면에 불필요한 비용의 손실을 야기한다. 본 논문에서는 최소의 비용을 들일 수 있는 최소 여분기계의 대수를 구하는 방법을 연구한다. 이를 위해 본 논문에서는 CTPNs(Colored Timed Petri-Nets)을 이용하여 각각의 실제 공정에 관여하는 기계고장과 작업실패에 관한 파라미터를 적용시킨 시스템을 모델링하고, 여분의 기계를 두었을 때 얻을 수 있는 시간 이득을 계산한다. 또한 반도체 생산 시스템과 같이 반복적이고 많은 공정을 거치는 복잡한 시스템에서 동일한 작업을 하는 기계의 대수가 많아지면 시스템의 모델링이 더욱 복잡해지기 때문에 이러한 공정을 단순화시키기 위해 같은 작업을 하는 여러 대의 기계로 구성된 공정을 하나의 모듈로 재구성하고, 재구성한 모듈들을 각 모듈단위로 여분의 기계를 두었을 때의 이득을 계산한다. 마지막으로 이렇게 제안된 모델을 이용해 각각 적용된 기계고장과 작업실패에 관여하는 파라미터를 변화시키면서 시뮬레이션을 통해 여분의 기계를 두었을 때 얻을 수 있는 시간 이득을 검증하고, 실제 생산공정의 하나인 반도체 switching 공정에 적용시켜 데드라인을 지킬 수 있는 최소 여분기계 대수를 구하여 그 실용성을 검증한다.
In a manufacturing system, it is hard to promise completely meeting the task deadlines or the due dates of complete parts either if certain machine failures occur or if the tasks of some machines are malfunctioning to outcome bad parts. It is clear that failed machines should be replaced immediately...
In a manufacturing system, it is hard to promise completely meeting the task deadlines or the due dates of complete parts either if certain machine failures occur or if the tasks of some machines are malfunctioning to outcome bad parts. It is clear that failed machines should be replaced immediately to decrease the system time (required to complete all the tasks), which accordingly demands considerable cost of constructing the manufacturing lines. The thesis handles the problem to minimize the extra cost for redundant machines required to meet the deadlines even in the presence of machine failures or contaminated tasks. Specifically, we use a CTPN(Colored Timed Petri-Net) to find the minimum number of redundant machines to minimizing spatial cost needed. First, we model the unit machine both without and with redundant machines and compute the benefits of extra time and the losses of costs. In such a complex system as semiconductor manufacturing system, the number of machines is too large to concisely model, therefore we modulize of the same group of machines through merging homogeneous features to simplify the modeling process. We eventually apply this approach to the semiconductor manufacturing system and to run a simulations by using the Petri-Net technique.1
In a manufacturing system, it is hard to promise completely meeting the task deadlines or the due dates of complete parts either if certain machine failures occur or if the tasks of some machines are malfunctioning to outcome bad parts. It is clear that failed machines should be replaced immediately to decrease the system time (required to complete all the tasks), which accordingly demands considerable cost of constructing the manufacturing lines. The thesis handles the problem to minimize the extra cost for redundant machines required to meet the deadlines even in the presence of machine failures or contaminated tasks. Specifically, we use a CTPN(Colored Timed Petri-Net) to find the minimum number of redundant machines to minimizing spatial cost needed. First, we model the unit machine both without and with redundant machines and compute the benefits of extra time and the losses of costs. In such a complex system as semiconductor manufacturing system, the number of machines is too large to concisely model, therefore we modulize of the same group of machines through merging homogeneous features to simplify the modeling process. We eventually apply this approach to the semiconductor manufacturing system and to run a simulations by using the Petri-Net technique.1
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