현대의 전자산업분야에서 초기고장을 감소시키기 위한 방법으로써 Burn-in 과정을 많이 사용하고 있으나, 근본적으로 잠재적 불량을 제거하여 전체적인 불량률을 감소시키기 위한 수단인 ESS(Environment Stress Screen)과정은 그다지 널리 퍼져 있지 않다. ESS는 소비자가 제품을 사용하기 전에 잠재적 불량을 제거함으로써 제품의 품질을 개선할 ...
현대의 전자산업분야에서 초기고장을 감소시키기 위한 방법으로써 Burn-in 과정을 많이 사용하고 있으나, 근본적으로 잠재적 불량을 제거하여 전체적인 불량률을 감소시키기 위한 수단인 ESS(Environment Stress Screen)과정은 그다지 널리 퍼져 있지 않다. ESS는 소비자가 제품을 사용하기 전에 잠재적 불량을 제거함으로써 제품의 품질을 개선할 수 있는 잠재적 능력을 제공한다. 최적의 시험을 하는 것은 재작업비용의 감소, 보다 적은 보증클레임과 사용현장의 수리비용을 감소시키고, 높은 품질에 만족한 소비자로부터 계속적으로 증가하는 소비에 대한 이익 등과 같은 경제적 이익을 가져오게 하는 것이다. 본 연구에서 부품과 하위조립품의 관점으로부터 최소가 되는 전체수명주기 비용은 평균 부품수준의 ESS 비용과 하위조립품수준의 ESS 비용을 현장 수리비용, 제품이 소비자에게 판매된 후, 보증기간내의 고장에 대한 사용현장수리비용의 함수로써 정식화되었다. 모든 식들은 확률이론을 기본으로 전개되었다. 수명분포는 잠재적 불량을 가지고 있는 하위모집단과 일상적 불량을 가지고 있는 하위모집단을 모두 표현하기 위하여 혼합지수분포를 따른다는 것과 각각의 모수들은 알려져 있는 것으로 가정을 하고 노화시간 T에서 제품의 수명이 종결이 된다고 가정을 하였다. 특히, 부품수준에서는 무료보증정책 뿐만 아니라 비율보증정책을 사용함으로써 여러 보증정책의 제약에 따른 비용모형을 제시하였다. 여기에 개발된 모형으로써, 제조공정에서 비용 측면에서 실용적으로 고려해야할 보증정책에 따라 효과적으로 적용할 수 있는 ESS를 수행할 수 있을 것이고, 최소비용으로 높은 신뢰도를 가지는 제품을 생산 할 수 있을 것이다. 이러한 본 연구의 결과를 요약하면 다음과 같다. 1, 제품의 수명이 종결되는 시간 T가 감소함에 따라서 사용수명에서의 재생기대수와 전체수명주기비용은 증가한다. 2. 잠재적 불량부품들의 하위모집단의 비율과 고장률이 증가함에 따라서 기대재생수와 전체수명주기비용은 증가한다. 잠재적 불량들의 영향은 잠재적 불량부품의 고장률과 하위모집단이 적을 경우에 (즉 P_(b)□0, λ_(b)□0)혼합분포에 대해서 무시할 수 있다. 3. 무료보증 정책에 비해서 비율보증정책이 λ_(b), P_(b)가 증가할 수록 전제수명주기 비용의 증가량이 민감하게 반응한다. 4. λ_(b)가 클 수록, 잠재적 불량을 발견하기 위한 ESS기간은 짧아지고, λ_(b)가 작을수록 P_(b)의 증가에 따라 잠재적 불량을 발견하기 위한 ESS 기간의 증가는 민감하게 반응한다. 5. 비율보증정책의 경우에 α(0≤α≤1)의 변화에 따라 최적 ESS기간은 짧아지고 제품수명주기비용은 감소한다. 6. 스트레스 수준의 변화에 따라서 스트레스 수준이 높아질 수록 잠재적 불량을 발견하기 위한 ESS 기간은 감소를 하며, 이것은 스트레스 수준을 높일 때 드는 추가비용과 제품의 강도에 주는 영향, 제품의 납기를 단축시킬 수 있는 것에 대한 이익 등이 고려되어져야만 정확한 값이 주어질 수 있다.
현대의 전자산업분야에서 초기고장을 감소시키기 위한 방법으로써 Burn-in 과정을 많이 사용하고 있으나, 근본적으로 잠재적 불량을 제거하여 전체적인 불량률을 감소시키기 위한 수단인 ESS(Environment Stress Screen)과정은 그다지 널리 퍼져 있지 않다. ESS는 소비자가 제품을 사용하기 전에 잠재적 불량을 제거함으로써 제품의 품질을 개선할 수 있는 잠재적 능력을 제공한다. 최적의 시험을 하는 것은 재작업비용의 감소, 보다 적은 보증클레임과 사용현장의 수리비용을 감소시키고, 높은 품질에 만족한 소비자로부터 계속적으로 증가하는 소비에 대한 이익 등과 같은 경제적 이익을 가져오게 하는 것이다. 본 연구에서 부품과 하위조립품의 관점으로부터 최소가 되는 전체수명주기 비용은 평균 부품수준의 ESS 비용과 하위조립품수준의 ESS 비용을 현장 수리비용, 제품이 소비자에게 판매된 후, 보증기간내의 고장에 대한 사용현장수리비용의 함수로써 정식화되었다. 모든 식들은 확률이론을 기본으로 전개되었다. 수명분포는 잠재적 불량을 가지고 있는 하위모집단과 일상적 불량을 가지고 있는 하위모집단을 모두 표현하기 위하여 혼합지수분포를 따른다는 것과 각각의 모수들은 알려져 있는 것으로 가정을 하고 노화시간 T에서 제품의 수명이 종결이 된다고 가정을 하였다. 특히, 부품수준에서는 무료보증정책 뿐만 아니라 비율보증정책을 사용함으로써 여러 보증정책의 제약에 따른 비용모형을 제시하였다. 여기에 개발된 모형으로써, 제조공정에서 비용 측면에서 실용적으로 고려해야할 보증정책에 따라 효과적으로 적용할 수 있는 ESS를 수행할 수 있을 것이고, 최소비용으로 높은 신뢰도를 가지는 제품을 생산 할 수 있을 것이다. 이러한 본 연구의 결과를 요약하면 다음과 같다. 1, 제품의 수명이 종결되는 시간 T가 감소함에 따라서 사용수명에서의 재생기대수와 전체수명주기비용은 증가한다. 2. 잠재적 불량부품들의 하위모집단의 비율과 고장률이 증가함에 따라서 기대재생수와 전체수명주기비용은 증가한다. 잠재적 불량들의 영향은 잠재적 불량부품의 고장률과 하위모집단이 적을 경우에 (즉 P_(b)□0, λ_(b)□0)혼합분포에 대해서 무시할 수 있다. 3. 무료보증 정책에 비해서 비율보증정책이 λ_(b), P_(b)가 증가할 수록 전제수명주기 비용의 증가량이 민감하게 반응한다. 4. λ_(b)가 클 수록, 잠재적 불량을 발견하기 위한 ESS기간은 짧아지고, λ_(b)가 작을수록 P_(b)의 증가에 따라 잠재적 불량을 발견하기 위한 ESS 기간의 증가는 민감하게 반응한다. 5. 비율보증정책의 경우에 α(0≤α≤1)의 변화에 따라 최적 ESS기간은 짧아지고 제품수명주기비용은 감소한다. 6. 스트레스 수준의 변화에 따라서 스트레스 수준이 높아질 수록 잠재적 불량을 발견하기 위한 ESS 기간은 감소를 하며, 이것은 스트레스 수준을 높일 때 드는 추가비용과 제품의 강도에 주는 영향, 제품의 납기를 단축시킬 수 있는 것에 대한 이익 등이 고려되어져야만 정확한 값이 주어질 수 있다.
Bum-in is widely used in the electronics segment to assist in. the elimination of early failures but ESS(Environmental Stress Screening), process for accelerating the aging of latent defects in order to avoid premature field failures is not widely used ESS offer the potential of improving product qu...
Bum-in is widely used in the electronics segment to assist in. the elimination of early failures but ESS(Environmental Stress Screening), process for accelerating the aging of latent defects in order to avoid premature field failures is not widely used ESS offer the potential of improving product quality by eliminating latent defects prior to customer use. An optimal test will result in the economic benefits of lower in-house rework fewer warranty claims and field repairs, and the increased profits of repeats business from satisfied customers. This paper presents cost optimization models from part and sub-assembly level view point. The total life cycle cost to be minimized is formulated as function of the mean costs of part level ESS, sub-assembly ESS, shop repairs, and field repairs. All of the equations are documented and derived based upon probability theory. The life distributions are assumed to have a mixture exponential distribution and truncated at obsolescence time T. In the cost models, the parameters are assumed to be known with certainty. Specially, this paper present cost model under various warranty policy in the part level by using the free warranty policy as well as rebate warranty policy. By the developed model in this paper, ESS is practically used in the manufacturing process under various warranty policy to consider total cost and high quality and reliability products are produced in minimal cost. The result of this paper are summarized as follows. 1. As obsolescence time decrease, the total life cycle costs increase due to increased failure rates in the useful life and increased test duration. 2. As the subpopulation of latent defect parts and the failure rate increase, the expected number of renewals and total life cycle costs increase. The effect of latent defects may be ignored for a mixture distribution when the subpopulation and the failure rate of the latent defect part are small(i.e. p_(b)□0 and λ_(b)□0) 3. According to increasing of p_(b), and λ_(b), change of total cost have more sensitive response in rebate warranty policy than free warranty policy. 4. Longer λ_(b) values result in shorter periods of ESS duration and as λ_(b) decrease, according to change of p_(b), increasing ESS duration to detect latent defect have more sensitive response 5. In the rebate warranty policy, as α(0≤α≤1) increase, optimal ESS duration and product life cycle cost decrease. 6. As stress level is high, ESS duration to detect latent defect decrease because ESS test costs are same at all stress levels, and there is no penalty for increased stress level
Bum-in is widely used in the electronics segment to assist in. the elimination of early failures but ESS(Environmental Stress Screening), process for accelerating the aging of latent defects in order to avoid premature field failures is not widely used ESS offer the potential of improving product quality by eliminating latent defects prior to customer use. An optimal test will result in the economic benefits of lower in-house rework fewer warranty claims and field repairs, and the increased profits of repeats business from satisfied customers. This paper presents cost optimization models from part and sub-assembly level view point. The total life cycle cost to be minimized is formulated as function of the mean costs of part level ESS, sub-assembly ESS, shop repairs, and field repairs. All of the equations are documented and derived based upon probability theory. The life distributions are assumed to have a mixture exponential distribution and truncated at obsolescence time T. In the cost models, the parameters are assumed to be known with certainty. Specially, this paper present cost model under various warranty policy in the part level by using the free warranty policy as well as rebate warranty policy. By the developed model in this paper, ESS is practically used in the manufacturing process under various warranty policy to consider total cost and high quality and reliability products are produced in minimal cost. The result of this paper are summarized as follows. 1. As obsolescence time decrease, the total life cycle costs increase due to increased failure rates in the useful life and increased test duration. 2. As the subpopulation of latent defect parts and the failure rate increase, the expected number of renewals and total life cycle costs increase. The effect of latent defects may be ignored for a mixture distribution when the subpopulation and the failure rate of the latent defect part are small(i.e. p_(b)□0 and λ_(b)□0) 3. According to increasing of p_(b), and λ_(b), change of total cost have more sensitive response in rebate warranty policy than free warranty policy. 4. Longer λ_(b) values result in shorter periods of ESS duration and as λ_(b) decrease, according to change of p_(b), increasing ESS duration to detect latent defect have more sensitive response 5. In the rebate warranty policy, as α(0≤α≤1) increase, optimal ESS duration and product life cycle cost decrease. 6. As stress level is high, ESS duration to detect latent defect decrease because ESS test costs are same at all stress levels, and there is no penalty for increased stress level
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