In-Circuit Test System (ICT)는 납땜이 완료된 PCB기판을 테스트하는 기기이다. 이들은 잘못된 부품이 납땜되었는지, 혹은 있어야 할 부품이 빠졌는지, 극성이 바르게 납땜되었는지등을 검사한다. 본 논문의 목적은 ICT를 위한 보다 진보된 테스트 알고리즘을 개발하는 것이다. 기존의 ICT장비들은 몇가지 제한을 안고있다. 하드웨어 구조에서는, 측정부가 ...
In-Circuit Test System (ICT)는 납땜이 완료된 PCB기판을 테스트하는 기기이다. 이들은 잘못된 부품이 납땜되었는지, 혹은 있어야 할 부품이 빠졌는지, 극성이 바르게 납땜되었는지등을 검사한다. 본 논문의 목적은 ICT를 위한 보다 진보된 테스트 알고리즘을 개발하는 것이다. 기존의 ICT장비들은 몇가지 제한을 안고있다. 하드웨어 구조에서는, 측정부가 DC 및 AC 부로 나뉘어져있다. DC 측정부는 단극성으로 특정한 수준의 전압/전류만을 생성할 수 있다. AC 측정부는 미리 정해진 몇가지 주파수의 사인파만을 생성할 수 있다. 이러한 제약들은 기기가 테스트할 수 있는 측정 대상 부품의 범위를 크게 제한한다. 새로이 개발된 측정부는 기존의 기기와는 달리 AC측정부와 DC측정부가 하나로 통합되었다. 그리고, 특정 수준 혹은 특정 주파수의 사인파뿐만아니라, 정해진 범위내에서 가변적일 수 있도록 하였다. 그리고, 사인파 이외에 직각파 및 삼각파를 생성할 수 있다. 이를 이용하면 측정에 있어 여러가지 장점들을 취할 수 있다. 예로는, 작은 R, L, C 측정에 유리하다던가, L과 C의 초기 및 말기 조건을 만족시키는 것 등이다. 또한, 적분기를 이용하여 측정 노이즈를 크게 줄이며, 기존의 ICT에서는 불가능했던 RLC 병렬회로를 측정할 수 있음을 보인다. 새로이 개발된 알고리즘을 실제 하드웨어 및 소프트웨어로 구현하였다. 측정 보드는 하나로 통합되었으며, PC 인터페이스 카드는 ISA 버스기반으로 개발되었다. 이를 윈도 2000 환경의 PC에서 WDM 드라이버를 이용하여 제어한다. 본 프로그램은 비주얼 C++로 개발되었다. 알고리즘의 구현 가능성과 유용성을 몇가지 실험을 통해 보인다.
In-Circuit Test System (ICT)는 납땜이 완료된 PCB기판을 테스트하는 기기이다. 이들은 잘못된 부품이 납땜되었는지, 혹은 있어야 할 부품이 빠졌는지, 극성이 바르게 납땜되었는지등을 검사한다. 본 논문의 목적은 ICT를 위한 보다 진보된 테스트 알고리즘을 개발하는 것이다. 기존의 ICT장비들은 몇가지 제한을 안고있다. 하드웨어 구조에서는, 측정부가 DC 및 AC 부로 나뉘어져있다. DC 측정부는 단극성으로 특정한 수준의 전압/전류만을 생성할 수 있다. AC 측정부는 미리 정해진 몇가지 주파수의 사인파만을 생성할 수 있다. 이러한 제약들은 기기가 테스트할 수 있는 측정 대상 부품의 범위를 크게 제한한다. 새로이 개발된 측정부는 기존의 기기와는 달리 AC측정부와 DC측정부가 하나로 통합되었다. 그리고, 특정 수준 혹은 특정 주파수의 사인파뿐만아니라, 정해진 범위내에서 가변적일 수 있도록 하였다. 그리고, 사인파 이외에 직각파 및 삼각파를 생성할 수 있다. 이를 이용하면 측정에 있어 여러가지 장점들을 취할 수 있다. 예로는, 작은 R, L, C 측정에 유리하다던가, L과 C의 초기 및 말기 조건을 만족시키는 것 등이다. 또한, 적분기를 이용하여 측정 노이즈를 크게 줄이며, 기존의 ICT에서는 불가능했던 RLC 병렬회로를 측정할 수 있음을 보인다. 새로이 개발된 알고리즘을 실제 하드웨어 및 소프트웨어로 구현하였다. 측정 보드는 하나로 통합되었으며, PC 인터페이스 카드는 ISA 버스기반으로 개발되었다. 이를 윈도 2000 환경의 PC에서 WDM 드라이버를 이용하여 제어한다. 본 프로그램은 비주얼 C++로 개발되었다. 알고리즘의 구현 가능성과 유용성을 몇가지 실험을 통해 보인다.
In-Circuit Test Systems (ICTs) are automatic equipments that tests soldered PCB subsystems. They detect target PCBs` failures such as wrong components, missing components, wrong polarity, and so on. The purpose of this thesis is to develop advanced test algorithm for In-Circuit Test Systems. Convent...
In-Circuit Test Systems (ICTs) are automatic equipments that tests soldered PCB subsystems. They detect target PCBs` failures such as wrong components, missing components, wrong polarity, and so on. The purpose of this thesis is to develop advanced test algorithm for In-Circuit Test Systems. Conventional ICTs have several limitations in their own. In hardware structure, the measuring part is separated in 2 subparts as DC measurement and AC measurement. DC measurement part can only produce predefined level of oltage in unipolar manner - it cannot operate in bipolar. Test signal from AC measurement part has limited frequency which limits testable range. With these hardware constraints, conventional ICTs` can test target PCBs in restricted manner. Newly developed measuring part is integrated in one board. It can produce not only DC signal but also AC signal. Moreover, it can generate ANY type of test signal we want by using dual-port RAM and digital-to-analog converter. With this feature, we can use triangular and rectangular waveforms in addition to simple DC and AC sine waveforms. Using these additional waveforms as test signal, we show some merits including usefulness in measuring small R, L, and C and satisfaction of initial and final condition for energy-storage components like L and C . We use integrator in noise reduction and can take advantage of it in measuring RLC parallel circuit which is not possible by using conventional ICT. We implemented newly developed test algorithm in hardware and software. New measure board is integrated in one, and controlled by ISA-based PC interface card. We control this card under Windows 2000 using WDM driver and program compiled using Visual C++. Some experiments are performed. They show the realizability and usefulness of developed algorithm.
In-Circuit Test Systems (ICTs) are automatic equipments that tests soldered PCB subsystems. They detect target PCBs` failures such as wrong components, missing components, wrong polarity, and so on. The purpose of this thesis is to develop advanced test algorithm for In-Circuit Test Systems. Conventional ICTs have several limitations in their own. In hardware structure, the measuring part is separated in 2 subparts as DC measurement and AC measurement. DC measurement part can only produce predefined level of oltage in unipolar manner - it cannot operate in bipolar. Test signal from AC measurement part has limited frequency which limits testable range. With these hardware constraints, conventional ICTs` can test target PCBs in restricted manner. Newly developed measuring part is integrated in one board. It can produce not only DC signal but also AC signal. Moreover, it can generate ANY type of test signal we want by using dual-port RAM and digital-to-analog converter. With this feature, we can use triangular and rectangular waveforms in addition to simple DC and AC sine waveforms. Using these additional waveforms as test signal, we show some merits including usefulness in measuring small R, L, and C and satisfaction of initial and final condition for energy-storage components like L and C . We use integrator in noise reduction and can take advantage of it in measuring RLC parallel circuit which is not possible by using conventional ICT. We implemented newly developed test algorithm in hardware and software. New measure board is integrated in one, and controlled by ISA-based PC interface card. We control this card under Windows 2000 using WDM driver and program compiled using Visual C++. Some experiments are performed. They show the realizability and usefulness of developed algorithm.
AI-Helper
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.