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전자 장치가 방사능에 오랜 기간 노출되게 되면 그 기능이 악화되게 된다. TID 현상은 의 계면에 전하가 trap되면서 MOSFET의 문턱전압을 변화시킨다. 그러므로 TID현상을 이해하는 것이 중요하고, 방사능이 전자 장치에 어떠한 영향을 주는 것인지 파악해야 한다.
이 논문에서는 방사능의 영향을 알아보기 위해 TID 현상을 알 수 있는 회로를 설계...
Exposing an electronic devices to Radiation for a long time, the cosmic radiation is accumulated in an electronic device. So, the performance of electronic devices is degraded due to Total Ionizing Dose (TID) Effect. TID Effect is trapping charge in interface. Bec...
저자 | 방병수 |
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학위수여기관 | 경희대학교 대학원 |
학위구분 | 국내석사 |
학과 | 전자전파공학과 |
지도교수 | 장익준 |
발행연도 | 2017 |
키워드 | TID radiation total ionizing dose |
언어 | kor |
원문 URL | http://www.riss.kr/link?id=T14375606&outLink=K |
정보원 | 한국교육학술정보원 |
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