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도파시트의 검사방법 자동화에 관한 연구
A Study on the Automatic Inspection Equipment for the Planer Light Wave Circuit Sheet 원문보기


봉은희 (남서울대학교 대학원 산업경영공학과 산업경영공학 국내석사)

초록
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본 논문에서는 휴대폰의 주요 부품인 Menu key, Back key의 여러 가지 불량 검사 중 양품, 불량을 판정하는 육안검사 방식의 문제점을 분석하고, 측정기 개발 및 측정시스템 분석(Measurement System Analysis)을 통해 정밀도가 획기적으로 향상된 결함 검출 해법을 제시하고 검증하였다.
이를 위해 제조 공정에서 발생 되는 제품의 불량 종류는 흑점, 백점, 동일 면적의 밝기 불량, 두 key간의 밝기 차이 로 정의 하였다. 이의 검출을 위해 검사 자동화 구현 기획을 수립하였으며, 검사 자동화 구현을 위해 기존 장비 제품 안착 위치 하단에 소형 카메라를 설치하여 다른 기능 검사와 동시에 Menu key, Back key의 결함 검출이 가능하도록 ...

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

This paper presents advanced fault detection method based on the development of measuring instrument and the analysis of measuring system in determination of good product or defective product of menu key and back key, which are important components of cellular phone.
The defect in the manufactur...

학위논문 정보

저자 봉은희
학위수여기관 남서울대학교 대학원
학위구분 국내석사
학과 산업경영공학과 산업경영공학
지도교수 임익성
발행연도 2016
총페이지 49
언어 kor
원문 URL http://www.riss.kr/link?id=T15082910&outLink=K
정보원 한국교육학술정보원

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