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다양한 분야에서 미세입자의 특성분석을 필요로 하며 이를 위한 방법으로 빛과 입자 간에 상호작용에 의해 발생하는 광산란 신호를 이용한 방법이 있다. 이 분석법을 활용한 대표적인 장비로 입자계수기가 있으며 다량의 입자를 실시간으로 특성 분석 할 수 있다. 이와 같은 다량의 입자 분석 방법뿐만 아니라 단일 입자만을 이용한 분석은 미세입자의 특성에 대한 이해를 더욱 넓혀 준다. 본 연구는 단일 입자에 대한 광산란 신호를 효과적으로 검출이 가능하도록 레이저 현미경 기반으로 장비를 개발을 하였다. 이 장비는 단일 입자와 레이저 빔의 상대적인 위치 확인을 위한 ...

다양한 분야에서 미세입자의 특성분석을 필요로 하며 이를 위한 방법으로 빛과 입자 간에 상호작용에 의해 발생하는 광산란 신호를 이용한 방법이 있다. 이 분석법을 활용한 대표적인 장비로 입자계수기가 있으며 다량의 입자를 실시간으로 특성 분석 할 수 있다. 이와 같은 다량의 입자 분석 방법뿐만 아니라 단일 입자만을 이용한 분석은 미세입자의 특성에 대한 이해를 더욱 넓혀 준다. 본 연구는 단일 입자에 대한 광산란 신호를 효과적으로 검출이 가능하도록 레이저 현미경 기반으로 장비를 개발을 하였다. 이 장비는 단일 입자와 레이저 빔의 상대적인 위치 확인을 위한 광학현미경과 광산란 신호를 효과적으로 광센서에 입력될 수 있도록 광 경로 제어 디자인을 하였다. 또한, 신호 검출에서 광신호-대-잡음비를 높여주기 위해 Balanced 측정과 Lock in 증폭기를 이용하였다. 개발한 장비에 대한 평가를 위해 700 nm와 565 nm의 직경을 가진 Polystyrene bead 단일 입자를 이용하여 광산란 분포맵을 얻었으며 효과적으로 광산란 신호를 검출 하는 것을 보인다. 이를 통해 다양한 분야의 응용 기술뿐만 아니라 기초 연구에 활용될 것으로 기대한다.

Abstract ▼ AI-Helper

Characterization of fine particles is required in various fields, and for this purpose, there is a method using a light scattering signal generated by the interaction between light and particles. A particle counter is a representative equipment using light scattering method, and it can characterize ...

Characterization of fine particles is required in various fields, and for this purpose, there is a method using a light scattering signal generated by the interaction between light and particles. A particle counter is a representative equipment using light scattering method, and it can characterize a large amount of particles in real time. Analysis using only single particles as well as a method for analyzing a large number of particles can broaden the understanding of the characteristics of fine particles. In this study, we have developed the equipment based on a laser microscope to effectively detect a light scattering signal for a single particle. This equipment is designed to control the optical path so the light scattering signal can be effectively input to the optical sensor. and also include visible microscope to confirm the relative position of the single particle and the laser beam. In addition, Balanced measurement and lock-in amplifier have been used to increase the optical signal-to-noise ratio in signal detection.

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