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NTIS 바로가기電子工學會論文誌. Jounnal of the Korea institute of telematics and electronics. A. A, v.31A no.8, 1994년, pp.46 - 52
이흥수 (한국전자통신연구소) , 이성현 (한국전자통신연구소) , 김봉렬 (연세대학교 전자공학과)
DC and AC current crowding effects for microwave and high speed bipolar transistors are investigated in detail using a new and accurate measurement technique based on Z-parameter equationa. Using the new measurement technique dc and ac current crowding effects have been explained clearly in bipolar ...
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