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NTIS 바로가기電子工學會論文誌. Jounnal of the Korea institute of telematics and electronics. A. A, v.31A no.10, 1994년, pp.173 - 184
서경호 (㈜창민테크놀러지 부설연구소) , 이재민 (관동대학교 전자공학과)
BiCMOS circuits mixed with CMOS and bipolar technologies show peculiar fault characteristics that are different from those of other technoloties. It has been reported that because most of short faults in BiCMOS circuits cause logically intermediate level at outputs, current monitoring method is requ...
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