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NTIS 바로가기한국광학회지 = Korean journal of optics and photonics, v.7 no.4, 1996년, pp.357 - 362
김상열
The thickness and the spectrum of the complex refractive index in the region 1.5~4.5 eV, of an MNA/PMMA thin film fabricated by spin casting are determined. The film thickness and the refractive index in its transparent region is calculated by modeling the spectroscopic ellipsometry data. The extinc...
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