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NTIS 바로가기電氣電子材料學會誌= The journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers, v.9 no.7, 1996년, pp.719 - 726
이동희
DLTS measurements were performed to study the annealing induced changes of the trap centers in MOV and to shed more light on the stability mechanism of the MOV. Two electron traps, Ec-0.26[eV] and Ec-(O.2-0.3)[eV], were observed in the unannealed samples in large quantities(7-9 X 1014[CM 3]), wherea...
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